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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2007-10-31 13:50 インバータ，SRAM回路におけるばらつき要因が回路特性に与える影響の分析 ○田辺 亮・芦澤芳夫・岡 秀樹（富士通研）  VLD2007-65 SDM2007-209 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 298, SDM2007-209, pp. 25-29, 2007年10月. | |
| 資料番号 | SDM2007-209 | |
| 発行日 | 2007-10-24 (VLD, SDM) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2007-65 SDM2007-209 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SDM VLD |
| 開催期間 | 2007-10-30 - 2007-10-31 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | プロセス・デバイス・回路シミュレーションおよび一般 |
| テーマ（英） | Process, Device, Circuit Simulation, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SDM |
| 会議コード | 2007-10-SDM-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | インバータ，SRAM回路におけるばらつき要因が回路特性に与える影響の分析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analysis of Inverter and SRAM circuits characteristics fluctuation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / |
| キーワード(2)（和/英） | / |
| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田辺 亮 / Ryo Tanabe / タナベ リョウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 富士通研究所 (略称： 富士通研) Fujitsu Laboratories (略称： Fujitsu Labs.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 芦澤 芳夫 / Yoshio Ashizawa / アシザワ ヨシオ |
| 第2著者 所属（和/英） | 富士通研究所 (略称： 富士通研) Fujitsu Laboratories (略称： Fujitsu Labs.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岡 秀樹 / Hideki Oka / オカ ヒデキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 富士通研究所 (略称： 富士通研) Fujitsu Laboratories (略称： Fujitsu Labs.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2007-10-31 13:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | SDM |
| 資料番号 | VLD2007-65, SDM2007-209 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.296(VLD), no.298(SDM) |
| ページ範囲 | pp.25-29 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2007-10-24 (VLD, SDM) |
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