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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2007-12-18 09:30 シーケンス図を利用した組込みシステム開発のためのテストケース生成手法の提案について ○井上 陽・片山徹郎（宮崎大）  SS2007-52 |
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| 抄録 | （和） | 組込みシステム開発では、製品の品質を保つための効率の良いテストが、強く求められている。 しかし、テストケースの作成は、未だテスターの経験と技量に依存した手作業で行われていることが多い。 そこで、UML(Unified Modeling Language)を用いた組込みシステム開発におけるテスト作業の効率化を目的として、システム開発の上流の過程における、 テストケース生成手法を提案する。 具体的には、シーケンス図から、テストケースを自動生成するためのテストケース生成手法の提案をするとともに、 上流工程での、仕様の抜けを発見するための、ユーザアクションのタイミングを示すタイミング確認表を作成する。 今回提案する手法によって、テスト作業の生産性向上と、ユーザアクションに対する処理の抜けの発見とが期待出来る。 |
| （英） | An efficient testing to keep the quality of products is required in embedded system development. But, test-cases are made according to the experience and capability of a tester. This paper proposes a test case generation method for the efficient testing. Concretely, test-cases and a table that expresses timing of user actions from a sequence diagram of UML(Unified Modeling Language) are generated. By using this method, discovering lack of specification, and improving of productivity of testing can be expected. |
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| キーワード | （和） | UML(Unified Modeling Language) / テストケース / シーケンス図 / MBT(Model-Based Testing) / / / / |
| （英） | UML(Unified Modeling Language) / test-case / sequence diagram / MBT(Model-Based Testing) / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 392, SS2007-52, pp. 85-90, 2007年12月. | |
| 資料番号 | SS2007-52 | |
| 発行日 | 2007-12-10 (SS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SS2007-52 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SS |
| 開催期間 | 2007-12-17 - 2007-12-18 |
| 開催地（和） | 島根大学 |
| 開催地（英） | Shimane Univ. |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | general |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SS |
| 会議コード | 2007-12-SS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | シーケンス図を利用した組込みシステム開発のためのテストケース生成手法の提案について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Proposal of a Test Case Generation Method for Enbedded Systems from Sequence Diagram |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | UML(Unified Modeling Language) / UML(Unified Modeling Language) |
| キーワード(2)（和/英） | テストケース / test-case |
| キーワード(3)（和/英） | シーケンス図 / sequence diagram |
| キーワード(4)（和/英） | MBT(Model-Based Testing) / MBT(Model-Based Testing) |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 陽 / Yo Inoue / イノウエ ヨウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 宮崎大学 (略称： 宮崎大) Univercity of Miyazaki (略称： Univ of Miyazaki) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 片山 徹郎 / Tetsuro Katayama / |
| 第2著者 所属（和/英） | 宮崎大学 (略称： 宮崎大) Univercity of Miyazaki (略称： Univ of Miyazaki) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2007-12-18 09:30:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | SS |
| 資料番号 | SS2007-52 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.392 |
| ページ範囲 | pp.85-90 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2007-12-10 (SS) |
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