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| 講演名 | 2008-01-25 16:25 構内配線の電気的特性がVDSL集合装置のノイズ耐力に及ぼす影響に関する検証 ○吉岡 博・石川俊幸・阿部 努・杢師健太郎・高谷和宏・富永哲欣（NTT東日本）  EMCJ2007-116 |
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| 抄録 | （和） | マンション等の集合住宅において，回線収容ビルから共用スペースまで光ファイバで接続し，共用スペースから各住戸までは既設構内配線を利用するVDSLサービスが著しく普及している．VDSLは，構内配線を利用することにより，安価な高速アクセスが実現されるが，構内配線区間で混入するノイズの影響を受けやすいという課題がある．また，構内配線には，ヒラウチセン，ツイウチセン，コウナイセン等と呼ばれる配線構造の異なるケーブルが用いられている．これらの構内配線は，配線構造が異なることにより，伝送損失，不平衡減衰量，近端・遠端漏話減衰量等の電気的特性が異なるが，これらの電気的特性によるVDSLサービスのノイズ耐力への影響は明確になっていない．本稿では，VDSLサービスに用いられる構内配線の電気的特性について評価し，構内配線の電気的特性がVDSL集合装置のノイズ耐力に及ぼす影響について述べる． |
| （英） | VDSL service has been progressed because it achieves high-speed Internet access with copper premises cables. Although inexpensive FTTH service has been offered by VDSL, the link between VDSL Ethernet switch and VDSL modem is influenced by noise mixed into premises cables. There are some premises cables called Hirauchi-sen, Tsuiuchi-sen, or Kounai-sen, and they have two types of structures. One is a flat cable, and the other is a twisted pair cable. The electrical characteristics of their cables are different (e.g., Transmission Loss, Longitudinal conversion loss, and Cross-talk). In this paper, we describe the relationship between the electrical characteristics of premises cables and the immunity level of the link between VDSL Ethernet switch and VDSL modem. | |
| キーワード | （和） | VDSL / 構内配線 / ノイズ耐力 / 不平衡減衰量 / 近端漏話減衰量 / 遠端漏話減衰量 / / |
| （英） | VDSL / premises cable / immunity / LCL / NEXT / FEXT / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 456, EMCJ2007-116, pp. 61-66, 2008年1月. | |
| 資料番号 | EMCJ2007-116 | |
| 発行日 | 2008-01-18 (EMCJ) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2007-116 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
| 開催期間 | 2008-01-25 - 2008-01-25 |
| 開催地（和） | 佐賀大学 |
| 開催地（英） | Saga University |
| テーマ（和） | 線路／一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2008-01-EMCJ |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 構内配線の電気的特性がVDSL集合装置のノイズ耐力に及ぼす影響に関する検証 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Study on the immunity level of VDSL link influenced by the characteristics of premises cables |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | VDSL / VDSL |
| キーワード(2)（和/英） | 構内配線 / premises cable |
| キーワード(3)（和/英） | ノイズ耐力 / immunity |
| キーワード(4)（和/英） | 不平衡減衰量 / LCL |
| キーワード(5)（和/英） | 近端漏話減衰量 / NEXT |
| キーワード(6)（和/英） | 遠端漏話減衰量 / FEXT |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉岡 博 / Hiroshi Yoshioka / ヨシオカ ヒロシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東日本電信電話株式会社 (略称： NTT東日本) Nippon Telegraph and Telephone East Corporation (略称： NTT East) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 石川 俊幸 / Toshiyuki Ishikawa / イシカワ トシユキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東日本電信電話株式会社 (略称： NTT東日本) Nippon Telegraph and Telephone East Corporation (略称： NTT East) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 阿部 努 / Tsutomu Abe / アベ ツトム |
| 第3著者 所属（和/英） | 東日本電信電話株式会社 (略称： NTT東日本) Nippon Telegraph and Telephone East Corporation (略称： NTT East) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 杢師 健太郎 / Kentaro Mokushi / モクシ ケンタロウ |
| 第4著者 所属（和/英） | 東日本電信電話株式会社 (略称： NTT東日本) Nippon Telegraph and Telephone East Corporation (略称： NTT East) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高谷 和宏 / Kazuhiro Takaya / タカヤ カズヒロ |
| 第5著者 所属（和/英） | 東日本電信電話株式会社 (略称： NTT東日本) Nippon Telegraph and Telephone East Corporation (略称： NTT East) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 富永 哲欣 / Tetsuya Tominaga / トミナガ テツヤ |
| 第6著者 所属（和/英） | 東日本電信電話株式会社 (略称： NTT東日本) Nippon Telegraph and Telephone East Corporation (略称： NTT East) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-01-25 16:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2007-116 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.456 |
| ページ範囲 | pp.61-66 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-01-18 (EMCJ) |
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