| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2008-01-25 16:35
SFQ TDCを用いたJosephson/CMOSハイブリッドメモリのアクセスタイム測定
○河合宣彰・岡本悠史・陳 賢珠・山梨裕希・吉川信行（横浜国大） |
| 抄録 |
（和） |
我々はSFQ回路におけるメモリのボトルネックを克服するために、サブナノ秒のアクセスタイムを可能とするJosephson/CMOS ハイブリッドメモリについて研究を行ってきた。これまでに、数ナノ秒のアクセスタイムが得られているが、CMOSデバイスの低温用モデルを用いたシミュレーションから得られた値よりも大きな値であった。そこで、我々はアクセスタイムの悪化の主な原因であるJosephsonチップのボンディングパッドに生じる寄生容量をできるだけ除去したパッド構造を用いてアクセスタイム測定を行った。今回、CMOS 0.35 m プロセスを用いた16kbハイブリッドメモリにおいて、理論と同程度の1.2 nsのアクセスタイムを得ることができた。 |
| （英） |
We have been developing a Josephson/CMOS hybrid memory, which enables the sub-nanosecond access time to overcome a memory bottleneck in RSFQ digital systems. In our previous study, we obtained the access time of a few nanoseconds, which is much larger than the value evaluated from the simulation using our low-temperature CMOS device model. We consider that deterioration of the access time is due to the parasitic capacitance at the bonding pad of the Josephson chip. In this study, we measured the access time using the Josephson chip with reduced parasitic capacitance. We have obtained the access time of about 1.2 ns in the 16 kb hybrid memory system, which agrees well with the simulation results. |
| キーワード |
（和） |
超伝導集積回路 / SFQ回路 / ハイブリッドメモリ / アクセスタイム / 寄生容量 / / / |
| （英） |
Superconducting integrated circuits / SFQ circuits / Hybrid memory / Access time / Parasitic capacitance / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 107, no. 458, SCE2007-33, pp. 47-51, 2008年1月. |
| 資料番号 |
SCE2007-33 |
| 発行日 |
2008-01-18 (SCE) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
SCE |
| 開催期間 |
2008-01-25 - 2008-01-25 |
| 開催地（和） |
機械振興会館 |
| 開催地（英） |
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） |
デジタル，一般 |
| テーマ（英） |
Digital applications |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
SCE |
| 会議コード |
2008-01-SCE |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
SFQ TDCを用いたJosephson/CMOSハイブリッドメモリのアクセスタイム測定 |
| サブタイトル（和） |
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| タイトル（英） |
Access Time Measurement of Josephson/CMOS Hybrid Memories using SFQ Time-to-Digital Converters |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
超伝導集積回路 / Superconducting integrated circuits |
| キーワード(2)（和/英） |
SFQ回路 / SFQ circuits |
| キーワード(3)（和/英） |
ハイブリッドメモリ / Hybrid memory |
| キーワード(4)（和/英） |
アクセスタイム / Access time |
| キーワード(5)（和/英） |
寄生容量 / Parasitic capacitance |
| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
河合 宣彰 / Nobuaki Kawai / カワイ ノブアキ |
| 第1著者 所属（和/英） |
横浜国立大学 (略称： 横浜国大)
Yokohama National University (略称： YNU) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
岡本 悠史 / Yuji Okamoto / オカモト ユウジ |
| 第2著者 所属（和/英） |
横浜国立大学 (略称： 横浜国大)
Yokohama National University (略称： YNU) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
陳 賢珠 / Hyunjoo Jin / ジン ヒョンジュ |
| 第3著者 所属（和/英） |
横浜国立大学 (略称： 横浜国大)
Yokohama National University (略称： YNU) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
山梨 裕希 / Yuki Yamanashi / ヤマナシ ユウキ |
| 第4著者 所属（和/英） |
横浜国立大学 (略称： 横浜国大)
Yokohama National University (略称： YNU) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
吉川 信行 / Nobuyuki Yoshikawa / ヨシカワ ノブユキ |
| 第5著者 所属（和/英） |
横浜国立大学 (略称： 横浜国大)
Yokohama National University (略称： YNU) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2008-01-25 16:35:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
SCE |
| 資料番号 |
SCE2007-33 |
| 巻番号（vol） |
vol.107 |
| 号番号（no） |
no.458 |
| ページ範囲 |
pp.47-51 |
| ページ数 |
5 |
| 発行日 |
2008-01-18 (SCE) |