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講演抄録/キーワード
講演名 2008-01-25 14:00
Analysis of Effective Permittivity for Different Dieletric Material in a Yee Cell
Manh-Dat Vu・○Kyeong-Sik MinKorea Maritime Univ.AP2007-153
抄録 (和) The Effective Permittivities (EPs) at the inclined dielectric interface in a Yee。ッs cell are calculated and evaluated by using the boundary conditions and numerical reflection coefficient. At the interface of two dielectric media, EPs must be determined to preserve the relations between the field components on adjacent sides of the boundaries with high accuracy in the FDTD analysis. In order to evaluate the calculated accuracy of effective permittivity at the dielectric boundary, the numerical reflection coefficient is analyzed and computed by applying the proposed EPs approach. The numerical analysis is performed for several examples and confirmed that the proposed EPs have high accuracy. Moreover, it is confirmed that the evaluation method for high accuracy EPs of a Yee cell with inclined dielectric material is a suitable and useful for FDTD method. 
(英) The Effective Permittivities (EPs) at the inclined dielectric interface in a Yee。ッs cell are calculated and evaluated by using the boundary conditions and numerical reflection coefficient. At the interface of two dielectric media, EPs must be determined to preserve the relations between the field components on adjacent sides of the boundaries with high accuracy in the FDTD analysis. In order to evaluate the calculated accuracy of effective permittivity at the dielectric boundary, the numerical reflection coefficient is analyzed and computed by applying the proposed EPs approach. The numerical analysis is performed for several examples and confirmed that the proposed EPs have high accuracy. Moreover, it is confirmed that the evaluation method for high accuracy EPs of a Yee cell with inclined dielectric material is a suitable and useful for FDTD method.
キーワード (和) FDTD / Effective Permittivity / Dielectric Interface / Reflection Coefficients / Orthogonal characteristics / / /  
(英) FDTD / Effective Permittivity / Dielectric Interface / Reflection Coefficients / Orthogonal characteristics / / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 431, AP2007-153, pp. 179-183, 2008年1月.
資料番号 AP2007-153 
発行日 2008-01-16 (AP) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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PDFダウンロード AP2007-153

研究会情報
研究会 AP  
開催期間 2008-01-23 - 2008-01-25 
開催地(和) てぃるる(那覇) 
開催地(英) Tyeruru.(Naha) 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英) etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 AP 
会議コード 2008-01-AP 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Analysis of Effective Permittivity for Different Dieletric Material in a Yee Cell 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) FDTD / FDTD  
キーワード(2)(和/英) Effective Permittivity / Effective Permittivity  
キーワード(3)(和/英) Dielectric Interface / Dielectric Interface  
キーワード(4)(和/英) Reflection Coefficients / Reflection Coefficients  
キーワード(5)(和/英) Orthogonal characteristics / Orthogonal characteristics  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) Manh-Dat Vu / Manh-Dat Vu /
第1著者 所属(和/英) Korea Maritime University (略称: Korea Maritime Univ.)
Korea Maritime University (略称: Korea Maritime Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Kyeong-Sik Min / Kyeong-Sik Min /
第2著者 所属(和/英) Korea Maritime University (略称: Korea Maritime Univ.)
Korea Maritime University (略称: Korea Maritime Univ.)
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講演者 第2著者 
発表日時 2008-01-25 14:00:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 AP 
資料番号 AP2007-153 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.431 
ページ範囲 pp.179-183 
ページ数
発行日 2008-01-16 (AP) 


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