| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2008-01-29 09:30
量子井戸レーザにおけるバンドオフセットのキャリヤ再結合寿命に与える影響 ○角田慎一・西村英晋・田中将士・須崎 渉(阪電通大) PN2007-55 OPE2007-163 LQE2007-141 |
| 抄録 |
(和) |
GaAsとInP基板上に形成した各種の光・キャリヤ分離閉じ込め型量子井戸レーザのキャリヤ再結合寿命を矩形電流パルスに対するレーザ発振遅延時間より測定した。光導波路層/バリヤ層と量子井戸の間のバンドオフセットエネルギーが小さいレーザでは、しきい値以下で電子のオーバフローを起こし、キャリヤ再結合寿命が小さくなることが系統的な測定により判明した。この理由は、オーバフローを起こそうとする電子と量子井戸に閉じ込められている正孔の間に働くクーロン力により、量子井戸近傍の光導波路層/バリヤ層に電子を閉じ込める井戸が形成され、レーザ遷移に関係しない再結合が増加するものと考えられる。 |
| (英) |
Carrier recombination lifetime of various kinds of separate-confinement quantum well lasers formed on GaAs and InP substrates has been systematically measured by lasing delay time. It decreases by overflow of electrons below threshold in lasers with small band offset energy between the quantum well and the waveguide/barrier layers. Decrease of carrier recombination lifetime might be due to the increase of non-lasing recombination of electrons injected into the electron -confining-well formed by Coulomb attractive force between overflowing electrons and confined holes in the quantum well. |
| キーワード |
(和) |
量子井戸レーザ / キャリヤ再結合寿命 / バンドオフセットエネルギー / 電子のオーバフロー / / / / |
| (英) |
Quantum Well / Carrier Recombination Lifetime / Band Offset / Electron Overflow / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 107, no. 466, LQE2007-141, pp. 101-106, 2008年1月. |
| 資料番号 |
LQE2007-141 |
| 発行日 |
2008-01-21 (PN, OPE, LQE) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
PN2007-55 OPE2007-163 LQE2007-141 |
| 研究会情報 |
| 研究会 |
EMT LQE OPE PN |
| 開催期間 |
2008-01-28 - 2008-01-29 |
| 開催地(和) |
大阪電気通信大学 |
| 開催地(英) |
|
| テーマ(和) |
フォトニックNW・デバイス,フォトニック結晶・ファイバとその応用,光集積回路,光導波路素子,光スイッチング,導波路解析,及び一般 |
| テーマ(英) |
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| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
LQE |
| 会議コード |
2008-01-EMT-LQE-OPE-PN |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
量子井戸レーザにおけるバンドオフセットのキャリヤ再結合寿命に与える影響 |
| サブタイトル(和) |
|
| タイトル(英) |
Influence of Band Offset on Carrier Lifetime in Quantum Well Lasers |
| サブタイトル(英) |
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| キーワード(1)(和/英) |
量子井戸レーザ / Quantum Well |
| キーワード(2)(和/英) |
キャリヤ再結合寿命 / Carrier Recombination Lifetime |
| キーワード(3)(和/英) |
バンドオフセットエネルギー / Band Offset |
| キーワード(4)(和/英) |
電子のオーバフロー / Electron Overflow |
| キーワード(5)(和/英) |
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| キーワード(6)(和/英) |
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| キーワード(7)(和/英) |
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| キーワード(8)(和/英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
角田 慎一 / Shinichi Kakuda / カクダ シンイチ |
| 第1著者 所属(和/英) |
大阪電気通信大学 (略称: 阪電通大)
Osaka Electro-Communication University (略称: OECU) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
西村 英晋 / Hideaki Nishimura / ニシムラ ヒデアキ |
| 第2著者 所属(和/英) |
大阪電気通信大学 (略称: 阪電通大)
Osaka Electro-Communication University (略称: OECU) |
| 第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
田中 将士 / Masashi Tanaka / タナカ マサシ |
| 第3著者 所属(和/英) |
大阪電気通信大学 (略称: 阪電通大)
Osaka Electro-Communication University (略称: OECU) |
| 第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
須崎 渉 / Wataru Susaki / スサキ ワタル |
| 第4著者 所属(和/英) |
大阪電気通信大学 (略称: 阪電通大)
Osaka Electro-Communication University (略称: OECU) |
| 第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2008-01-29 09:30:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
LQE |
| 資料番号 |
PN2007-55, OPE2007-163, LQE2007-141 |
| 巻番号(vol) |
vol.107 |
| 号番号(no) |
no.464(PN), no.465(OPE), no.466(LQE) |
| ページ範囲 |
pp.101-106 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2008-01-21 (PN, OPE, LQE) |