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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-02-08 15:15 テスト長制約下での欠陥検出向上のための状態可観測なFSMのテスト生成法 ○井上諒一・細川利典（日大）・藤原秀雄（奈良先端大）  DC2007-78 |
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| 抄録 | （和） | 我々は，オーバーテストやアンダーテストを抑制するために，状態可観測な状態遷移機械（FSM）の論理故障テストやタイミング故障テストに対する故障非依存テスト生成法と故障依存テスト生成法を提案した．故障非依存テスト生成法で生成されたテスト系列は，すべての論理故障やタイミング故障を検出できるのでテスト品質が非常に高い．しかしながら，FSMの状態遷移数が多いと，そのテスト系列長は長くなる．一方，故障依存テスト生成法で生成されたテスト系列は，指定された故障モデルに対しては，テスト可能な故障はすべて検出することができるが，他の故障モデルに対する故障検出率は高いとはいえない．本論文では，状態可観測なFSMを対象に，限られたテスト長下で指定された故障モデルに対して，テスト可能な故障はすべて検出し，他の主要な故障モデルに対して高い故障検出率を得るためのテスト生成法を提案する．MCNC'91ベンチマーク回路に対して，本手法のブリッジ故障検出率，遷移故障検出率，統計的遅延品質モデルについて評価し，縮退故障依存テスト生成法と比較して，その有効性を示す． |
| （英） | We proposed a fault-independent test generation method for logical fault testing of state-observable FSMs and a fault-dependent test generation method for timing fault testing of state-observable FSMs to reduce over testing and under testing. Since the test sequence generated by a fault-independent test generation method is detectable all kinds of logical faults and timing faults, the test quality is very high. However, the test length is long for FSMs with many state transitions. While, the test sequence generated by a fault-dependent test generation method is detectable all testable faults for specified fault models, but does not achieve high fault coverage for other fault models. In this paper, we propose a test generation method to detect all testable faults for specified fault models and to increase fault coverage for other main fault models as much as possible for state-observable FSMs under a test length constraint. We give experimental results for MCNC'91 benchmark circuits to evaluate bridging fault coverage, transition fault coverage, and statistical delay quality level and show the effectiveness of the proposed test generation method compared with a stuck-at fault dependent test generation method. | |
| キーワード | （和） | 状態可観測なFSM / 論理故障 / タイミング故障 / 故障活性化率 / n回検出テスト / / / |
| （英） | State-observable FSMs / logical fault testing / timing fault testing / fault sensitization coverage / n-detection / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 482, DC2007-78, pp. 69-76, 2008年2月. | |
| 資料番号 | DC2007-78 | |
| 発行日 | 2008-02-01 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2007-78 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2008-02-08 - 2008-02-08 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2008-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | テスト長制約下での欠陥検出向上のための状態可観測なFSMのテスト生成法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Test Generation Methods for State Observable FSMs to Increase Defect Coverage Under Test Length Constraint |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 状態可観測なFSM / State-observable FSMs |
| キーワード(2)（和/英） | 論理故障 / logical fault testing |
| キーワード(3)（和/英） | タイミング故障 / timing fault testing |
| キーワード(4)（和/英） | 故障活性化率 / fault sensitization coverage |
| キーワード(5)（和/英） | n回検出テスト / n-detection |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 諒一 / Ryoichi Inoue / イノウエ リョウイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤原 秀雄 / Hideo Fujiwara / フジワラ ヒデオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-02-08 15:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2007-78 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.482 |
| ページ範囲 | pp.69-76 |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | 2008-02-01 (DC) |
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