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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-02-08 14:15 スキャンパス攻撃を考慮した暗号LSIのテスタビリティ評価 ○伊藤侑磨・吉村正義・安浦寛人（九大）  DC2007-76 |
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| 抄録 | （和） | セキュリティ対策，著作権保護の観点などから，現在様々なデジタル製品には暗号LSIが搭載されている．暗号LSIを含む現在のほとんどのLSIには，テストのためにスキャンパスが挿入されている．しかしながら，スキャンパスを用いることにより暗号LSI上で扱われる秘密情報を特定される危険性がある．本稿では，スキャンパスの構成を変えることによるテスタビリティとセキュリティのトレードオフの関係を明らかにする．このために，DESを実装した暗号LSIに部分的にスキャンパスを挿入し，テスタビリティとセキュリティの評価を行う．さらに，テスタビリティとセキュリティのトレードオフの関係を考慮した防御法を提案し，提案した防御法の評価を行う．提案した防御法では，スキャンパス攻撃を防ぎつつ，約98%の高い故障検出効率を得ることができる． |
| （英） | Recently, an encryption LSI is embedded in a variety of digital products for security and copyright protection. Most LSI including encryption LSI has a scan path for a test.However, there is a risk that the secret information is leaked from a scan path. In this paper, we show the trade-off between testability and security by changing the composition of scan path.We insert various scan path patterns in a hardware implementation of the DES, and evaluate these testability and security. In addition, we propose a countermeasure against the scan-based attack, and evaluate the countermeasure from the viewpoints of testability and security. The proposed countermeasure can achieve about 98% of high test coverage with preventing scan based attack. |
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| キーワード | （和） | スキャンパス攻撃 / DES / テスタビリティ / セキュリティ / / / / |
| （英） | scan based attack / DES / testability / security / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 482, DC2007-76, pp. 57-62, 2008年2月. | |
| 資料番号 | DC2007-76 | |
| 発行日 | 2008-02-01 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2007-76 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2008-02-08 - 2008-02-08 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2008-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | スキャンパス攻撃を考慮した暗号LSIのテスタビリティ評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An evaluation of encryption LSI testability against scan based attack |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | スキャンパス攻撃 / scan based attack |
| キーワード(2)（和/英） | DES / DES |
| キーワード(3)（和/英） | テスタビリティ / testability |
| キーワード(4)（和/英） | セキュリティ / security |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊藤 侑磨 / Yuma Ito / イトウ ユウマ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyushu University (略称： Kyushu Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyushu University (略称： Kyushu Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 安浦 寛人 / Hiroto Yasuura / ヤスウラ ヒロト |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyushu University (略称： Kyushu Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-02-08 14:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2007-76 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.482 |
| ページ範囲 | pp.57-62 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-02-01 (DC) |
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