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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-02-08 09:50 遷移故障に対する診断用テスト生成法 相京 隆（愛媛大/半導体理工学研究センター）・樋上喜信・高橋 寛・○吉川 達・高松雄三（愛媛大）  DC2007-69 |
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| 抄録 | （和） | 半導体デバイスの微細化・高速化に伴い， 動作タイミングに影響を与える遅延故障に対する故障診断の要求が高まってきている． 故障診断結果の候補故障数を少なくするためには， 故障診断用テスト生成が重要である． 本稿では，遅延故障として遷移故障を対象とし， できるだけ多くの故障ペアを区別する故障診断用テスト生成法を提案する． 提案するテスト生成法は， まず既存の与えられた遷移故障検出用テスト集合によって区別できない故障ペアを求める． 求めた故障ペアに対して，付加回路を挿入し， 縮退故障用テスト生成ツールを用いてテスト生成を行う． さらに，回路の構造を調べることによっても，区別不可能な故障ペアを識別する． 提案法の有効性については，iscasベンチマーク回路に対する実験を行い確認する． |
| （英） | In modern manufacturing technologies with the shrinking of manufacturing process, LSIs may have several metal interconnect layers and the long copper(Cu) interconnect wires. Under the modern manufacturing technologies, the open defect is the one of the significant issues to maintain the reliability of LSI. The open defects at the interconnects are caused by scratches and/or voids in the interconnects such as wires, contacts, and vias. However, the modeling and techniques for test and diagnosis for open faults have been not established yet. In this paper, we propose new open fault model with considering the affects of adjacent lines. Under the open fault model, the fault is excited depending on the logic values at the adjacent lines that are assigned by the test. Next, we propose the diagnosis method based on the open fault model. We use the detecting/un-detecting information based on the excitation condition with considering the logic values at the adjacent lines and the fault propagation condition to deduce the candidate open fault. Experimental results show that the proposed method based on the detecting/un-detecting information is able to diagnose the open faults. |
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| キーワード | （和） | 診断用テスト / テスト生成 / 遷移故障 / 遅延故障 / / / / |
| （英） | Diagnostic Test / Test Generation / Transition Fault / Delay Fault / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 482, DC2007-69, pp. 13-18, 2008年2月. | |
| 資料番号 | DC2007-69 | |
| 発行日 | 2008-02-01 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2007-69 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2008-02-08 - 2008-02-08 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2008-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 遷移故障に対する診断用テスト生成法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Diagnostic Test Generation for Transition Faults |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 診断用テスト / Diagnostic Test |
| キーワード(2)（和/英） | テスト生成 / Test Generation |
| キーワード(3)（和/英） | 遷移故障 / Transition Fault |
| キーワード(4)（和/英） | 遅延故障 / Delay Fault |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 相京 隆 / Takashi Aikyo / アイキョウ タカシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大/半導体理工学研究センター) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ |
| 第2著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉川 達 / Toru Kikkawa / キッカワ トオル |
| 第4著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高松 雄三 / Yuzo Takamatsu / タカマツ ユウゾウ |
| 第5著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 講演者 | 第4著者 |
| 発表日時 | 2008-02-08 09:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2007-69 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.482 |
| ページ範囲 | pp.13-18 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-02-01 (DC) |
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