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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-02-15 13:00 接触障害とシリコーン蒸気の分解プロセスの形態 ～ 接触デバイスにおけるシリコーン汚染の影響 ～ ○玉井輝雄（三重大）・服部康弘・池田博榮（オートネットワーク技研）  R2007-61 EMD2007-116 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 485, EMD2007-116, pp. 13-18, 2008年2月. | |
| 資料番号 | EMD2007-116 | |
| 発行日 | 2008-02-08 (R, EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2007-61 EMD2007-116 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD R |
| 開催期間 | 2008-02-15 - 2008-02-15 |
| 開催地（和） | オムロン京都センタービル啓真館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 機構デバイスの信頼性,信頼性一般 （共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会，IEEE CPMT JAPAN) |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2008-02-EMD-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 接触障害とシリコーン蒸気の分解プロセスの形態 |
| サブタイトル（和） | 接触デバイスにおけるシリコーン汚染の影響 |
| タイトル（英） | Decomposition process of silicone and electrical contact failure |
| サブタイトル（英） | Influence of silicone contamination on contact devices |
| キーワード(1)（和/英） | / |
| キーワード(2)（和/英） | / |
| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 玉井 輝雄 / Terutaka Tamai / タマイ テルタカ |
| 第1著者 所属（和/英） | 三重大学 (略称： 三重大) Mie University (略称： Mie Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 服部 康弘 / Yasuhiro Hattori / ハットリ ヤスヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | オートネットワーク技術研究所 (略称： オートネットワーク技研) AutoNetworks Technology, Ltd. (略称： ANT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 池田 博榮 / Hirosaka Ikeda / イケダ ヒロサカ |
| 第3著者 所属（和/英） | オートネットワーク技術研究所 (略称： オートネットワーク技研) AutoNetworks Technology, Ltd. (略称： ANT) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-02-15 13:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | R2007-61, EMD2007-116 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.484(R), no.485(EMD) |
| ページ範囲 | pp.13-18 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-02-08 (R, EMD) |
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