| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2008-03-07 17:00
3次元型トランジスタFinFETによるLSIの高密度設計法 ~ CMOSセルライブラリを用いたパターン面積の縮小効果の検討 ~ ○岡本恵介・小泉圭輔・廣島 佑・渡辺重佳(湘南工科大) VLD2007-170 ICD2007-193 |
| 抄録 |
(和) |
3次元型トランジスタを用いたシステムLSI設計法、特に素子領域のパターン面積の縮小効果について検討した(検討したモチーフはNAND,NOR等の基本回路とテーパ型バッファ回路)。この検討により、FinFETを用いることでパターン面積が大幅に削減できる可能性が有ることがわかった。そこで、CMOSセルライブラリへ“平面型+FinFET型”方式を適用し、側壁チャネル幅を最適化することにより、動作速度、消費電力等の性能を犠牲にする事無くシステムLSIの素子領域のパターン面積を従来の平面型の場合の約40%に縮小できることを示した。今後設計上の幾つかの検討項目を解決することにより、“平面型+FinFET型”方式は将来のシステムLSI実現の有力な候補になる。 |
| (英) |
(Not available yet) |
| キーワード |
(和) |
システムLSI / 3次元型トランジスタ / FinFET / チャネル幅 / 側壁チャネル幅 / セルライブラリ / / |
| (英) |
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| 文献情報 |
信学技報, vol. 107, no. 511, ICD2007-193, pp. 81-86, 2008年3月. |
| 資料番号 |
ICD2007-193 |
| 発行日 |
2008-02-29 (VLD, ICD) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
VLD2007-170 ICD2007-193 |
| 研究会情報 |
| 研究会 |
VLD ICD |
| 開催期間 |
2008-03-05 - 2008-03-07 |
| 開催地(和) |
沖縄県男女共同参画センター |
| 開催地(英) |
TiRuRu |
| テーマ(和) |
システムオンシリコン設計技術ならびにこれを活用したVLSI <オーガナイザ:張山 昌論(東北大学)> |
| テーマ(英) |
System-on-silicon design techniques and related VLSs |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
ICD |
| 会議コード |
2008-03-VLD-ICD |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
3次元型トランジスタFinFETによるLSIの高密度設計法 |
| サブタイトル(和) |
CMOSセルライブラリを用いたパターン面積の縮小効果の検討 |
| タイトル(英) |
Design of High Density LSI with Three-Dimensional Transistor FinFET |
| サブタイトル(英) |
Effect of pattern Area Reduction with CMOS Cell Library |
| キーワード(1)(和/英) |
システムLSI / |
| キーワード(2)(和/英) |
3次元型トランジスタ / |
| キーワード(3)(和/英) |
FinFET / |
| キーワード(4)(和/英) |
チャネル幅 / |
| キーワード(5)(和/英) |
側壁チャネル幅 / |
| キーワード(6)(和/英) |
セルライブラリ / |
| キーワード(7)(和/英) |
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| キーワード(8)(和/英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
岡本 恵介 / Keisuke Okamoto / オカモト ケイスケ |
| 第1著者 所属(和/英) |
湘南工科大学 (略称: 湘南工科大)
Shonan Institute of Technology (略称: Shonan Inst. of Tech.) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
小泉 圭輔 / Keisuke Koizumi / コイズミ ケイスケ |
| 第2著者 所属(和/英) |
湘南工科大学 (略称: 湘南工科大)
Shonan Institute of Technology (略称: Shonan Inst. of Tech.) |
| 第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
廣島 佑 / Yu Hiroshima / ヒロシマ ユウ |
| 第3著者 所属(和/英) |
湘南工科大学 (略称: 湘南工科大)
Shonan Institute of Technology (略称: Shonan Inst. of Tech.) |
| 第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
渡辺 重佳 / Shigeyoshi Watanabe / ワタナベ シゲヨシ |
| 第4著者 所属(和/英) |
湘南工科大学 (略称: 湘南工科大)
Shonan Institute of Technology (略称: Shonan Inst. of Tech.) |
| 第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2008-03-07 17:00:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
ICD |
| 資料番号 |
VLD2007-170, ICD2007-193 |
| 巻番号(vol) |
vol.107 |
| 号番号(no) |
no.508(VLD), no.511(ICD) |
| ページ範囲 |
pp.81-86 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2008-02-29 (VLD, ICD) |