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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-03-28 11:15 Eclipse上に実装した組込みシステムのコード品質解析システム ○中村祐一・撫原恒平（NEC）  DC2007-108 CPSY2007-104 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 559, DC2007-108, pp. 145-148, 2008年3月. | |
| 資料番号 | DC2007-108 | |
| 発行日 | 2008-03-20 (DC, CPSY) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2007-108 CPSY2007-104 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC CPSY IPSJ-SLDM IPSJ-EMB |
| 開催期間 | 2008-03-27 - 2008-03-28 |
| 開催地（和） | 屋久島 離島総合開発センター |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 組込技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2008（コンピュータシステム研究会、情報処理学会システムLSI設計技術研究会、情報処理学会組込みシステム研究会共催） |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2008-03-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | Eclipse上に実装した組込みシステムのコード品質解析システム |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Code Quality Analysis Toolset for Embedded Systems on Eclipse |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / |
| キーワード(2)（和/英） | / |
| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中村 祐一 / Yuichi Nakamura / ナカムラ ユウイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | NEC (略称： NEC) NEC Corp. (略称： NEC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 撫原 恒平 / Kohei Nadehara / ナデハラ コウヘイ |
| 第2著者 所属（和/英） | NEC (略称： NEC) NEC Corp. (略称： NEC) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-03-28 11:15:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2007-108, CPSY2007-104 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.559(DC), no.558(CPSY) |
| ページ範囲 | pp.145-148 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2008-03-20 (DC, CPSY) |
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