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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-03-28 13:50 少品種高信頼セルによる演算器の提案と評価 ○鈴木一範・中田 尚・中西正樹・山下 茂・中島康彦（奈良先端大）  DC2007-112 CPSY2007-108 |
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| 抄録 | （和） | 近年のトランジスタ製造プロセスの微細化によって，トランジスタの故障率の増加が無視できない問題となっている．故障率の増加を抑える手法として，我々はトランジスタが規則的に配置されたセルを提案した．このセルはPMOSとNMOSを組み合わせたものを基本単位として構成されている．我々の提案したセルは，従来のセルに比べて壊れにくく，また故障を検出する機能を備えている． 本論文ではこのセルで構成された演算器の提案および評価を行った．提案した演算器は，従来のセルで構成された演算器とトランジスタ数がほぼ同等でありながら，耐故障性に優れていることが分かった． |
| （英） | Recently, the shrinking process causes growth of error rate. We have proposed new standard cells in which transistors are arranged regularly in order to reduce errors. These cells are composed of pairs of PMOS and NMOS. The proposed cells are more robust against transistor faults and can also detect them. In this paper, we propose and evaluate a functional unit that is composed of the proposed cells. The number of transistors in our proposed functional unit is comparable that by traditional cells. Moreover our proposed functional unit has better fault tolerance. |
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| キーワード | （和） | 性能ばらつき / 故障検出 / 耐故障性 / / / / / |
| （英） | transistor variation / fault detection / fault tolerance / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 559, DC2007-112, pp. 167-172, 2008年3月. | |
| 資料番号 | DC2007-112 | |
| 発行日 | 2008-03-20 (DC, CPSY) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2007-112 CPSY2007-108 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC CPSY IPSJ-SLDM IPSJ-EMB |
| 開催期間 | 2008-03-27 - 2008-03-28 |
| 開催地（和） | 屋久島 離島総合開発センター |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 組込技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2008（コンピュータシステム研究会、情報処理学会システムLSI設計技術研究会、情報処理学会組込みシステム研究会共催） |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2008-03-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 少品種高信頼セルによる演算器の提案と評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Functional Unit with Small Variety of Highly Reliable Cells and Its Evaluation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 性能ばらつき / transistor variation |
| キーワード(2)（和/英） | 故障検出 / fault detection |
| キーワード(3)（和/英） | 耐故障性 / fault tolerance |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鈴木 一範 / Kazunori Suzuki / スズキ カズノリ |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中田 尚 / Takashi Nakada / ナカダ タカシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中西 正樹 / Masaki Nakanishi / ナカニシ マサキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山下 茂 / Shigeru Yamashita / ヤマシタ シゲル |
| 第4著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中島 康彦 / Yasuhiko Nakashima / ナカシマ ヤスヒコ |
| 第5著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-03-28 13:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2007-112, CPSY2007-108 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.559(DC), no.558(CPSY) |
| ページ範囲 | pp.167-172 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-03-20 (DC, CPSY) |
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