ご案内 入会して研究会活動をもっとお得に!研究会参加費・年間登録費が会員価格になります。
お知らせ 【重要】研究会参加費の支払いおよび原稿アップロード手続きの変更に関するご案内
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2008-04-12 11:25
金属触媒誘起固相成長法による多結晶Ge/絶縁膜の低温形成 ~ 電界印加効果、触媒種効果 ~
萩原貴嗣都甲 薫佐道泰造九大SDM2008-20 OME2008-20
抄録 (和) 次世代TFTのチャネル材料として期待される多結晶Ge/絶縁膜の極低温形成(≦250℃)を目指し金属触媒誘起固相成長法を検討した.まず,Ni触媒誘起固相成長を低温化する為,固相成長に与える電界印加効果を検討した.その結果,電界印加(200-500 V/cm)により,375℃における成長速度が約1桁上昇することが明らかになった.しかし,低温(≦350℃)での成長促進には高電界(≧2500V/cm)の印加が必要と示唆され,高電界印加によるGe膜の飛散により低温化が困難と判明した.そこで,他の触媒種(Cu, Pd, Co)を検討した結果,Cuを用いる事で,極低温(250℃)での高速成長(約2m/h)が実現出来た. 
(英) Metal-induced lateral crystallization (MILC) of Ge was investigated to realize extremely low-temperature (≦250℃) formation of poly-Ge films on insulator. It was found that the growth velocity of Ni-MILC at 375oC was significantly increased by applying an electric field (200-500 V/cm). However, the growth temperature could not be decreased to <350oC, because an extremely high electric fields (>2500V/cm) was necessary at the low-temperatures, but Ge films were evaporated under such a high electric field. Thus, effects of other catalyst metals (Cu, Pd, Co) were examined. As a result, extremely low-temperature (250oC) growth with a high velocity (~2 &#61549;m/h) was realized by using Cu as catalyst.
キーワード (和) 金属誘起固相成長 / ゲルマニウム / 薄膜トランジスタ / 低温結晶化 / 電界誘起成長 / / /  
(英) metal-induced lateral crystallization / germanium / thin-film transistor / low-temperature crystallization / electric-field-induced crystallization / / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 1, SDM2008-20, pp. 101-106, 2008年4月.
資料番号 SDM2008-20 
発行日 2008-04-04 (SDM, OME) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SDM2008-20 OME2008-20

研究会情報
研究会 SDM OME  
開催期間 2008-04-11 - 2008-04-12 
開催地(和) 沖縄県青年会館 
開催地(英) Okinawa Seinen Kaikan 
テーマ(和) TFTの材料・デバイス技術・応用および一般 
テーマ(英) TFT Materials, Devices, and Applications and Others related to SDM and OME activity 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2008-04-SDM-OME 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 金属触媒誘起固相成長法による多結晶Ge/絶縁膜の低温形成 
サブタイトル(和) 電界印加効果、触媒種効果 
タイトル(英) Low-temperature formation of poly-Ge on insulator by metal-induced lateral crystallization 
サブタイトル(英)
キーワード(1)(和/英) 金属誘起固相成長 / metal-induced lateral crystallization  
キーワード(2)(和/英) ゲルマニウム / germanium  
キーワード(3)(和/英) 薄膜トランジスタ / thin-film transistor  
キーワード(4)(和/英) 低温結晶化 / low-temperature crystallization  
キーワード(5)(和/英) 電界誘起成長 / electric-field-induced crystallization  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 萩原 貴嗣 / Takashi Hagihara / ハギハラ タカツグ
第1著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 都甲 薫 / Kaoru Toko / トコウ カオル
第2著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐道 泰造 / Taizoh Sadoh / サドウ タイゾウ
第3著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第21著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第21著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第22著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第22著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第23著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第23著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第24著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第24著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第25著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第25著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第26著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第26著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第27著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第27著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第28著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第28著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第29著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第29著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第30著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第30著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第31著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第31著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第32著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第32著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第33著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第33著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第34著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第34著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第35著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第35著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第36著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第36著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2008-04-12 11:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 SDM2008-20, OME2008-20 
巻番号(vol) vol.108 
号番号(no) no.1(SDM), no.2(OME) 
ページ範囲 pp.101-106 
ページ数
発行日 2008-04-04 (SDM, OME) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会