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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-05-29 15:20 内部光電子分光法による高分子半導体/陰極界面の電位障壁の評価 ○伊東栄次（信州大）・山田晃史，宮入圭一  OME2008-27 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 59, OME2008-27, pp. 35-40, 2008年5月. | |
| 資料番号 | OME2008-27 | |
| 発行日 | 2008-05-22 (OME) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | OME2008-27 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME |
| 開催期間 | 2008-05-29 - 2008-05-29 |
| 開催地（和） | 電気倶楽部第３会議室 |
| 開催地（英） | Denki-Club, Meeting room 3 |
| テーマ（和） | 有機材料・一般 |
| テーマ（英） | Electronic organic materials |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | OME |
| 会議コード | 2008-05-OME |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 内部光電子分光法による高分子半導体/陰極界面の電位障壁の評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Measurement of electron barrier height at polymeric semiconductor/cathode interface by internal photoemission spectroscopy |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / |
| キーワード(2)（和/英） | / |
| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊東 栄次 / Eiji Itoh / イトウ エイジ |
| 第1著者 所属（和/英） | 信州大学 (略称： 信州大) Shinshu University (略称： Shinshu Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山田 晃史 / Koji Yamada / ヤマダ コウジ |
| 第2著者 所属（和/英） | * (略称： *) * (略称： *) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮入 圭一 / Keiichi Miyairi / ミヤイリ ケイイチ |
| 第3著者 所属（和/英） | * (略称： *) * (略称： *) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-05-29 15:20:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | OME |
| 資料番号 | OME2008-27 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.59 |
| ページ範囲 | pp.35-40 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-05-22 (OME) |
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