| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2008-05-30 13:30
コードクローンをテンプレートとして用いて識別子のバリエーションを調べる手法の提案 ○神谷年洋(産総研) SS2008-11 KBSE2008-11 |
| 抄録 |
(和) |
コードクローンとは,ソースコード上の同一または類似したコード断片であり,典型的には開発者のコピー&ペーストによって作られる.コードクローンを検出する技術は,リファクタリングの補助や,ソースコード修正前のチェック,一貫性のないコード修正の発見などに応用されてきている.本論文では,検出されたコードクローンのコード断片中に現れる識別子の差違を解析し,解析結果を反映してコードクローンの検出精度を改善したり,プロダクト間(あるいは単一のプロダクトのバージョン間)の差違を理解する,といった応用を行う方法を提案する. |
| (英) |
Code clone is identical or similar code fragments, and is typically generated by copy-and-pasting of developer. Code-clone detection technique is used for supporting refactoring, checking before code modification, and finding inconsistent modification of code.
This paper presents a method to detect difference of identifiers between code fragments of a code clone, in order to improve accuracy of code-clone detection and to support comprehension between software products (or versions of a products). |
| キーワード |
(和) |
リバースエンジニアリング / マイニング / プログラム理解 / コードクローン / / / / |
| (英) |
reverse enginnering / mining / program comprehension / code clone / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 108, no. 64, SS2008-11, pp. 59-64, 2008年5月. |
| 資料番号 |
SS2008-11 |
| 発行日 |
2008-05-22 (SS, KBSE) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
SS2008-11 KBSE2008-11 |
| 研究会情報 |
| 研究会 |
KBSE SS |
| 開催期間 |
2008-05-29 - 2008-05-30 |
| 開催地(和) |
宮崎市民プラザ 大会議室 |
| 開催地(英) |
Miyazaki Citizens' Plaza |
| テーマ(和) |
一般 |
| テーマ(英) |
general |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
SS |
| 会議コード |
2008-05-KBSE-SS |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
コードクローンをテンプレートとして用いて識別子のバリエーションを調べる手法の提案 |
| サブタイトル(和) |
|
| タイトル(英) |
Identifier Variation Analysis Using Code Clone as Template |
| サブタイトル(英) |
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| キーワード(1)(和/英) |
リバースエンジニアリング / reverse enginnering |
| キーワード(2)(和/英) |
マイニング / mining |
| キーワード(3)(和/英) |
プログラム理解 / program comprehension |
| キーワード(4)(和/英) |
コードクローン / code clone |
| キーワード(5)(和/英) |
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| キーワード(6)(和/英) |
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| キーワード(7)(和/英) |
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| キーワード(8)(和/英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
神谷 年洋 / Toshihiro Kamiya / カミヤ トシヒロ |
| 第1著者 所属(和/英) |
産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2008-05-30 13:30:00 |
| 発表時間 |
30分 |
| 申込先研究会 |
SS |
| 資料番号 |
SS2008-11, KBSE2008-11 |
| 巻番号(vol) |
vol.108 |
| 号番号(no) |
no.64(SS), no.65(KBSE) |
| ページ範囲 |
pp.59-64 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2008-05-22 (SS, KBSE) |
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