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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-06-27 10:00 ADDを用いたテスト環境生成問題について ○清水祐紀（奈良先端大）・黄 佳儀（マレーシア工科大）・藤原秀雄（奈良先端大）  CAS2008-22 VLD2008-35 SIP2008-56 |
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| 抄録 | （和） | 本論文では，ADD(Assignment Decision Diagram)で表現される機能記述RTL(Register Transfer Level)回路を対象に，それらを構成する各要素のテスト環境を生成する問題を考察する．ADDを対象にテスト環境を求める方法としては，GhoshらやZhangらにより9値及び10値代数の記号処理に基づく方法が提案されているが，本来テスト環境が存在するにも拘らず生成に失敗する場合が数多く存在することが分かっている．本論文では，それらの方法で生成できるテスト環境に加え，さらに多くのテスト環境を生成するために，記号処理の規則（正当化／伝搬規則）を拡充したテスト環境生成手法を提案する． |
| （英） | In this paper, we consider a problem of test environment generation for functional register-transfer level (RTL) circuits using an assignment decision diagram (ADD). As for the test environment generation method using ADDs, Ghosh et al. and Zhang et al. proposed symbolic processing based algorithms which utilize a set of 9-valued and 10-valued algebras, respectively, to perform symbolic justification and propagation of test objectives. However, it is known that there are many cases that their methods fail to generate a test environment even if it exists. This paper presents a new method for test environment generation with enhanced symbolic processing (justification and propagation) rules in order to generate more test environments than previous methods. | |
| キーワード | （和） | テスト環境 / RTLテスト生成 / 高位テスト / ADD / / / / |
| （英） | Test environment / RTL test generation / high-level testing / assignment decision diagrams / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 107, VLD2008-35, pp. 19-24, 2008年6月. | |
| 資料番号 | VLD2008-35 | |
| 発行日 | 2008-06-20 (CAS, VLD, SIP) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CAS2008-22 VLD2008-35 SIP2008-56 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD CAS SIP |
| 開催期間 | 2008-06-26 - 2008-06-27 |
| 開催地（和） | 北海道大学 高等教育機能開発センター |
| 開催地（英） | Hokkaido Univ. |
| テーマ（和） | 信号処理、LSI、及び一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2008-06-VLD-CAS-SIP |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ADDを用いたテスト環境生成問題について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On the Test Environment Generation Problem Using Assignment Decision Diagrams |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | テスト環境 / Test environment |
| キーワード(2)（和/英） | RTLテスト生成 / RTL test generation |
| キーワード(3)（和/英） | 高位テスト / high-level testing |
| キーワード(4)（和/英） | ADD / assignment decision diagrams |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 清水 祐紀 / Yuki Shimizu / シミズ ユウキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 黄 佳儀 / Chia Yee Ooi / チャ イー ウイ |
| 第2著者 所属（和/英） | マレーシア工科大学 (略称： マレーシア工科大) Faculity of Electrical Engineering University of Technology Malaysia (略称： UTM) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤原 秀雄 / Hideo Fujiwara / フジワラ ヒデオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-06-27 10:00:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | CAS2008-22, VLD2008-35, SIP2008-56 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.105(CAS), no.107(VLD), no.109(SIP) |
| ページ範囲 | pp.19-24 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-06-20 (CAS, VLD, SIP) |
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