講演抄録/キーワード |
講演名 |
2008-07-14 14:55
電子透かし耐性向上のための幾何補正法とその要求精度 ○上村翔平・藤吉正明・貴家仁志(首都大東京) IE2008-34 MVE2008-28 |
抄録 |
(和) |
本稿では,電子透かし法の耐性向上を目的として画像の幾何補正法を検討する.透かしを埋めた画像に対して,印刷やスキャナによる取り込み処理を想定したとき,解像度の設定や取り込み時の紙の置き方などに自由度がある.一般にこの過程は,画像に幾何変換を発生させ,埋め込まれた情報の抽出を困難にする.そのため,幾何変換に耐性を有する多くの電子透かし法が検討されているが,提案法では,位相限定相関を利用して幾何補正をすることで耐性を向上する方法を検討する.幾何補正順序,取り込み時の自由度および幾何補正の要求精度の観点から考察している. |
(英) |
This paper studies geometrical compensation methods for improving the watermark extraction ability. In a printing-and-scanning process of an image, conditions such as printing resolution, scanning resolution, and paper position to the scanner are all different each time. In general, such a process geometrically transforms a stego image in which watermark is hidden, so the watermark extraction gets difficult. Whereas the conventional approach makes the watermarking method resistant to geometrical transform, this paper proposes a method that improves watermark extraction performance by geometrical compensation utilizing phase-only correlation technique. The sequence of geometrical compensation, scanning conditions, and the required accuracy of geometrical compensation are considered in this paper. |
キーワード |
(和) |
電子透かし / 印刷 / 幾何補正 / 位相限定相関 / 解像度変換 / / / |
(英) |
digital watermarking / printing / geometrical compensation / phase-only correlation / scaling / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 108, no. 127, IE2008-34, pp. 7-12, 2008年7月. |
資料番号 |
IE2008-34 |
発行日 |
2008-07-07 (IE, MVE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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IE2008-34 MVE2008-28 |
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