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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-07-17 11:50 4ポート回路Sパラメータの片側2ポート測定法 ○松田 昂・和田修己・Umberto Paoletti・久門尚史（京大）  EMCJ2008-31 |
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| 抄録 | （和） | 回路特性を調べる手法の1つとしてベクトルネットワークアナライザを用いてS パラメータを測定する手法がある。高密度実装された回路基板においては、等電 位とみなせるようなグラウンドを用意することは困難であるため、等電位である グラウンドを必要としない測定法として4ポート回路に対し有効である片側２ポ ート測定法を検討した。片側2ポート測定法とは、片側2ポートの終端条件を開 放、短絡、整合と変化させ、その度に反対側の2ポートからSパラメータを測定 し、得られた測定結果を組み合わせることで、4ポート全体のSパラメータを得 るという方法である。この測定法では2通りの計算式が導出されるが，終端条件の影響が見られるように適切に使う式を選ぶことで、終端条件側2ポート間の透過係数以 外は精度良く測定出来ることが分かった。 |
| （英） | One way of evaluating circuit characteristics is to measure the scattering (S) parameters with a vector network analyzer. Since it is difficult to set an equipotential ground on high-density boards, the authors propose a new procedure for four-port circuit measurement, the one-end two-port measurement technique, which does not require an equipotential ground. In order to use the one-end two-port measurement technique,the termination condition at two ports on one end is changed with open, short, and 50-ohm matching, and two-port S-parameters are measured at two ports on the other end. Four-port S-parameters are calculated from these results. Two pairs of expressions are derived using this method. When expressions are selected to see the effects of termination condition, the S-parameters are correctly obtained, except for the parameters between the far-end ports where the termination condition is changed. |
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| キーワード | （和） | 測定法 / Sパラメータ / 4ポート回路 / 片側測定 / 終端条件 / / / |
| （英） | measurement technique / s-parameters / four-port circuit / one-end measurement / terminal condition / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 132, EMCJ2008-31, pp. 31-36, 2008年7月. | |
| 資料番号 | EMCJ2008-31 | |
| 発行日 | 2008-07-10 (EMCJ) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2008-31 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
| 開催期間 | 2008-07-17 - 2008-07-17 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | 若手研究者発表会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2008-07-EMCJ |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 4ポート回路Sパラメータの片側2ポート測定法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | One-end Two-port Measurement Technique for Four-port S-parameters |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 測定法 / measurement technique |
| キーワード(2)（和/英） | Sパラメータ / s-parameters |
| キーワード(3)（和/英） | 4ポート回路 / four-port circuit |
| キーワード(4)（和/英） | 片側測定 / one-end measurement |
| キーワード(5)（和/英） | 終端条件 / terminal condition |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松田 昂 / Akira Matsuda / マツダ アキラ |
| 第1著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 修己 / Osami Wada / ワダ オサミ |
| 第2著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | Umberto Paoletti / Umberto Paoletti / ウンベルト パオレッティ |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 久門 尚史 / Takashi Hisakado / ヒサカド タカシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-07-17 11:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2008-31 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.132 |
| ページ範囲 | pp.31-36 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-07-10 (EMCJ) |
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