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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-10-17 15:00 超小型リードスイッチ用イリジウム接点材の寿命特性における一考察 ○橋本祐喜・横山和也・小林達郎（沖センサデバイス）  EMD2008-63 |
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| 抄録 | （和） | 近年、計測機器や通信機器などのアプリケーション拡大に伴い、リードスイッチにも種々の改良が要求されており、その一つとして小型化が挙げられる。リードスイッチの小型化を実現する為にはガラス管内のリード片寸法を小さくする必要がある。しかしながら、小型化に伴い接点の接触力は減少の一途をたどり、接点性能の維持が困難になってきている。本書では、従来から使用しているロジウム接点より高い接点性能が期待できるイリジウム接点について検討し、動作試験を行った。その結果、抵抗負荷回路、容量負荷回路だけでなく、誘導負荷回路においても、イリジウム接点はロジウム接点を上回る接点性能を示すことが判明し、イリジウムは超小型リードスイッチの接点材として有効であることを確認した。 |
| （英） | With application expansion such as test system and communications equipment, various improvements of reed switches are required recently. One of them is miniaturization. The authors have to make the reed size in a glass tube smaller to miniaturize reed switches. However, this has conversely led to the decrease in contact force and thus increased difficulty in maintaining contact capabilities. In this paper, the authors examined iridium as a contact material in which the performance is expected to be higher than that of the rhodium contact that has been used. As a result, in not only a resistive load circuit and a capacitive load circuit but also an inductive load circuit, the authors confirmed that iridium performed better than rhodium and was useful for ultra-miniature reed switch contacts. | |
| キーワード | （和） | イリジウム接点 / 抵抗負荷 / 容量負荷 / 誘導負荷 / エロージョン / / / |
| （英） | Iridium / Resistive load / Capacitive load / Inductive load / Erosion / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 246, EMD2008-63, pp. 19-24, 2008年10月. | |
| 資料番号 | EMD2008-63 | |
| 発行日 | 2008-10-10 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2008-63 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2008-10-17 - 2008-10-17 |
| 開催地（和） | 東京都八王子労政会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | トライボロジ・一般（共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会） |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2008-10-EMD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 超小型リードスイッチ用イリジウム接点材の寿命特性における一考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Study on the Life Characteristics of Iridium Contacts for Ultra-miniature Reed Switches |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | イリジウム接点 / Iridium |
| キーワード(2)（和/英） | 抵抗負荷 / Resistive load |
| キーワード(3)（和/英） | 容量負荷 / Capacitive load |
| キーワード(4)（和/英） | 誘導負荷 / Inductive load |
| キーワード(5)（和/英） | エロージョン / Erosion |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋本 祐喜 / Yuki Hashimoto / ハシモト ユウキ |
| 第1著者 所属（和/英） | （株）沖センサデバイス (略称： 沖センサデバイス) Oki Sensor Device Corporation (略称： OSDC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 横山 和也 / Kazuya Yokoyama / ヨコヤマ カズヤ |
| 第2著者 所属（和/英） | （株）沖センサデバイス (略称： 沖センサデバイス) Oki Sensor Device Corporation (略称： OSDC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 達郎 / Tatsuo Kobayashi / コバヤシ タツオ |
| 第3著者 所属（和/英） | （株）沖センサデバイス (略称： 沖センサデバイス) Oki Sensor Device Corporation (略称： OSDC) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-10-17 15:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2008-63 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.246 |
| ページ範囲 | pp.19-24 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-10-10 (EMD) |
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