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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-10-31 15:40 有機トランジスタの電子スピン共鳴 ～ キャリアダイナミクス解明への微視的アプローチ ～ ○松井弘之（東大/産総研）・長谷川達生（産総研）  OME2008-56 |
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| 抄録 | （和） | 有機トランジスタの素子動作を明らかにするため，ゲート電界によりチャネル内に蓄積したキャリアの伝導機構を電子スピン共鳴（ESR）法により詳しく調べた．移動度の高いペンタセン薄膜トランジスタにおいて，移動度の増大とともに線幅が狭くなる「運動による先鋭化」が観測されることを見出し，その結果をもとに，キャリアがトラップに束縛される平均滞在時間と，トラップ－リリースの繰り返しからなる伝導機構について議論を行う． |
| （英） | Field-induced electron spin resonance (ESR) methods are found to be useful in elucidating microscopic carrier dynamics in organic transistors. The results provide us a clear picture of trap-dominated transport along the semiconductor/insulator interface. Temperature dependence and gate-voltage dependence of the ESR spectra are discussed on the basis of motional narrowing effect. | |
| キーワード | （和） | 有機トランジスタ / ペンタセン / 電子スピン共鳴 / 運動による先鋭化効果 / / / / |
| （英） | Organic Transistors / Pentacene / Electron Spin Resonance / Motional Narrowing Effect / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 272, OME2008-56, pp. 31-36, 2008年10月. | |
| 資料番号 | OME2008-56 | |
| 発行日 | 2008-10-24 (OME) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | OME2008-56 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME |
| 開催期間 | 2008-10-31 - 2008-10-31 |
| 開催地（和） | 東大本郷 工学部６号館３階セミナー室Ａ |
| 開催地（英） | ToKyo Univ. Faculty of Engineering Bldg.6 |
| テーマ（和） | センサー、デバイス、一般 |
| テーマ（英） | Sensor, Device, etc |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | OME |
| 会議コード | 2008-10-OME |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 有機トランジスタの電子スピン共鳴 |
| サブタイトル（和） | キャリアダイナミクス解明への微視的アプローチ |
| タイトル（英） | Electron Spin Resonance of Organic Transistors |
| サブタイトル（英） | Microscopic Approach to Carrier Dynamics |
| キーワード(1)（和/英） | 有機トランジスタ / Organic Transistors |
| キーワード(2)（和/英） | ペンタセン / Pentacene |
| キーワード(3)（和/英） | 電子スピン共鳴 / Electron Spin Resonance |
| キーワード(4)（和/英） | 運動による先鋭化効果 / Motional Narrowing Effect |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松井 弘之 / Hiroyuki Matsui / マツイ ヒロユキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京大学/産業技術総合研究所 (略称： 東大/産総研) University of Tokyo/AIST (略称： Univ. Tokyo/AIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 長谷川 達生 / Tatsuo Hasegawa / ハセガワ タツオ |
| 第2著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) AIST (略称： AIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-10-31 15:40:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | OME |
| 資料番号 | OME2008-56 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.272 |
| ページ範囲 | pp.31-36 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-10-24 (OME) |
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