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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-11-13 14:50 SASEBOにおけるFPGAに対する電力解析/電磁波解析実験 ○庄司陽彦・野澤 晃・木村隆幸（ワイ・デー・ケー）・洲崎智保・山下哲孝・角尾幸保（NEC）  ISEC2008-77 OIS2008-53 |
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| 抄録 | （和） | INSTAC-32 準拠ボード上で動作する暗号処理に対してサイドチャネル攻撃の手法である「電力解析」と「電磁波解析」の実験を行った際は，電力においてはビット単位で着目した場合に得られるサイドチャネル情報がほぼ均等となるのに対して，電磁波においてはビット単位で着目した場合に得られるサイドチャネル情報に偏りが存在するという結果が得られた．本稿では，サイドチャネル攻撃用標準評価ボードSASEBO 上のFPGA で動作する暗号処理に対して電力解析と電磁波解析を実施し，同様の偏りが見られるかを確認した． しかしながら，SASEBO において得られた電力／電磁波のサイドチャネル情報を，ビット単位に分類を行い，得られるレベルの比較をしたが，双方の偏りの大きさに違いがほとんど見られない結果となった．この結果より，偏りに違いがみられなかった原因について考察する． |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | SASEBO / サイドチャネル攻撃 / DPA / DEMA / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 284, ISEC2008-77, pp. 29-34, 2008年11月. | |
| 資料番号 | ISEC2008-77 | |
| 発行日 | 2008-11-06 (ISEC, OIS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ISEC2008-77 OIS2008-53 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ISEC LOIS |
| 開催期間 | 2008-11-13 - 2008-11-14 |
| 開催地（和） | 名古屋能楽堂会議室 |
| 開催地（英） | Nagoya Noh Theater |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ISEC |
| 会議コード | 2008-11-ISEC-LOIS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | SASEBOにおけるFPGAに対する電力解析/電磁波解析実験 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Experiment with DPA and DEMA on FPGA Equipped on SASEBO |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | SASEBO / |
| キーワード(2)（和/英） | サイドチャネル攻撃 / |
| キーワード(3)（和/英） | DPA / |
| キーワード(4)（和/英） | DEMA / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 庄司 陽彦 / Takahiko Syouji / ショウジ タカヒコ |
| 第1著者 所属（和/英） | （株）ワイ・デー・ケー (略称： ワイ・デー・ケー) Y.D.K. Co.,Ltd. (略称： Y.D.K. Co.,Ltd.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 野澤 晃 / Akira Nozawa / ノザワ アキラ |
| 第2著者 所属（和/英） | （株）ワイ・デー・ケー (略称： ワイ・デー・ケー) Y.D.K. Co.,Ltd. (略称： Y.D.K. Co.,Ltd.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 木村 隆幸 / Takayuki Kimura / キムラ タカユキ |
| 第3著者 所属（和/英） | （株）ワイ・デー・ケー (略称： ワイ・デー・ケー) Y.D.K. Co.,Ltd. (略称： Y.D.K. Co.,Ltd.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 洲崎 智保 / Tomoyasu Suzaki / スザキ トモヤス |
| 第4著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC Corporation) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山下 哲孝 / Noritaka Yamashita / ヤマシタ ノリタカ |
| 第5著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC Corporation) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 角尾 幸保 / Yukiyasu Tsunoo / ツノオ ユキヤス |
| 第6著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC Corporation) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-11-13 14:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ISEC |
| 資料番号 | ISEC2008-77, OIS2008-53 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.284(ISEC), no.285(OIS) |
| ページ範囲 | pp.29-34 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-11-06 (ISEC, OIS) |
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