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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-11-17 13:00 周辺回路を含むAES-LSIへのスキャンベース攻撃 ○奈良竜太・戸川 望・柳澤政生・大附辰夫（早大）  VLD2008-68 DC2008-36 |
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| 抄録 | （和） | 暗号LSIに対するサイドチャネル攻撃の危険性が指摘されているなか，スキャンチェインを利用して秘密鍵を解読するスキャンベース攻撃が注目されている．スキャンチェインは必須のLSIテスト技術である一方，LSI内部のレジスタを直接観測できるため，暗号回路の秘密鍵解読に利用されている．従来のスキャンベース攻撃は暗号回路だけのレジスタだけで構成されたスキャンチェインにのみ有効であり，周辺回路のレジスタを考慮していない欠点があった．そこで本稿では暗号回路以外のレジスタがスキャンチェインに含まれていても秘密鍵を解読する手法を提案する．特定のレジスタに着目し，その値の変化を見ることで秘密鍵を解析する．他のレジスタに影響を受けないため，スキャンチェインの構成に依存しない．そのため，周辺回路を含んだ，より現実に近い暗号LSIに対しスキャンベース攻撃することができる． |
| （英） | The threat of side-channel attacks of cryptography LSIs is indicated. Recently, Scan-based attacks using the scan chain are watched. Scan chain is one of the most important testing techniques, but it is possible to use for attacks of the cryptography LSIs. The threat of side-channel attacks against the cryptography LSI is indicated. Especially, scan-based attacks, which use the scan chain, are watched. Scan chains are one of the most important testing techniques, but it is possible to use for attacks against the cryptography LSI. Conventional scan-based attacks only consider the scan chain made by registers of cryptography circuits.However, cryptography LSI usually has many IPs such as memories, micro-processors and other circuits.Because of the real scan chain consists of many kinds of registers, it is obscure whether conventional scan-based attacks can attack or cannot.In this paper, scan-based attack which enables to crack the secret key in the AES-LSI with other IPs is proposed. By focusing the bit pattern of the specific register and monitoring its change, and our method eliminates the influence of other circuit registers. Therefore, our scan-based attacks don't depend on the architecture of the scan chain, and it can crack real cryptography LSIs included with other IPs. |
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| キーワード | （和） | AES / サイドチャネル攻撃 / スキャンチェイン / スキャンベース攻撃 / / / / |
| （英） | Advanced Encryption Standard / AES / Side-channel attacks / Scan chain / Scan-based attac / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 298, VLD2008-68, pp. 49-53, 2008年11月. | |
| 資料番号 | VLD2008-68 | |
| 発行日 | 2008-11-10 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2008-68 DC2008-36 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2008-11-17 - 2008-11-19 |
| 開催地（和） | 北九州学術研究都市 |
| 開催地（英） | Kitakyushu Science and Research Park |
| テーマ（和） | デザインガイア2008 ―VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2008 ―New field of VLSI design― |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2008-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 周辺回路を含むAES-LSIへのスキャンベース攻撃 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Scan-based Attack for an AES-LSI included with other IPs |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | AES / Advanced Encryption Standard |
| キーワード(2)（和/英） | サイドチャネル攻撃 / AES |
| キーワード(3)（和/英） | スキャンチェイン / Side-channel attacks |
| キーワード(4)（和/英） | スキャンベース攻撃 / Scan chain |
| キーワード(5)（和/英） | / Scan-based attac |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 奈良 竜太 / Ryuta Nara / ナラ リュウタ |
| 第1著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 戸川 望 / Nozomu Togawa / トガワ ノゾム |
| 第2著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 柳澤 政生 / Masao Yanagisawa / ヤナギサワ マサオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大附 辰夫 / Tatsuo Ohtsuki / オオツキ タツオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-11-17 13:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2008-68, DC2008-36 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.298(VLD), no.299(DC) |
| ページ範囲 | pp.49-53 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2008-11-10 (VLD, DC) |
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