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講演抄録/キーワード
講演名 2008-12-04 13:30
UHF帯RFIDにおける電波特性を含めた複数RFタグエミュレーション
神谷尚保三次 仁慶大)・川喜田佑介電通大)・杉本健一中村 修村井 純慶大
抄録 (和) リーダ/ライタの読み取りの性能評価は,通常複数のRFタグを読み取ることで行われるため,大量RFタグの読み取りを想定したRFIDシステムの設計・構築には多大な手間と時間がかかる.この問題に対し,著者らが従来提案していた複数のRFタグのMACプロトコルの動作をエミュレーションするアルゴリズムに電波特性によって引き起こされるキャプチャ効果(複数のRFタグからのアクセス要求が衝突しても電力差によりアクセスが成功する現象)の影響を含めたエミュレーションアルゴリズムを提案する.提案アルゴリズムのエミュレーション精度に関しては,数値シミュレーションにより評価し,エミュレーションできる最大のRFタグ数に関しては,8bit MPUを有するプログラマブル電池付きパッシブタグに実装して定量評価を行った.その結果,数%のエミュレーション精度の誤差で最大5460個のRFタグのエミュレーションができることが明らかとなった. 
(英) A RFID system design and implementation using many RF tags entails a burden for laying out many RF tags. Because interrogator’s reading performance is usually evaluated by actually reading multiple RF tags.
The authors propose multiple RF tag emulation algorithm improved by including capture effect that the access succeeds by the electric power difference even if the access requests from plural RF tags collide. We have evaluated emulation accuracy by numerical simulation and maximum number of RF tags by implemented onto a BAP (programmable battery assisted passive tag) which houses 8bit MPU. It was revealed that the algorithm achieves 5460 tags emulation with a trivial penalty on accuracy.
キーワード (和) RFID / UHF / プログラマブル電池付きパッシブタグ(BAP) / 複数RFタグエミュレーションアルゴリズム / EPCglobal Class-1 Generation-2 / キャプチャ効果 / /  
(英) RFID / UHF / programmable battery assisted passive tag(BAP) / multiple RF tag emulation algorithm / EPCglobal Class-1 Generation-2 / Capture effect / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 334, SIS2008-49, pp. 39-44, 2008年12月.
資料番号 SIS2008-49 
発行日 2008-11-27 (SIS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
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研究会情報
研究会 SIS  
開催期間 2008-12-04 - 2008-12-05 
開催地(和) 関西大学(千里山キャンパス) 
開催地(英) Kansai Univ. 
テーマ(和) システムオンシリコン,RFID技術および一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SIS 
会議コード 2008-12-SIS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) UHF帯RFIDにおける電波特性を含めた複数RFタグエミュレーション 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Multiple RF tag Emulation including Radio property in UHF band RFID 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) RFID / RFID  
キーワード(2)(和/英) UHF / UHF  
キーワード(3)(和/英) プログラマブル電池付きパッシブタグ(BAP) / programmable battery assisted passive tag(BAP)  
キーワード(4)(和/英) 複数RFタグエミュレーションアルゴリズム / multiple RF tag emulation algorithm  
キーワード(5)(和/英) EPCglobal Class-1 Generation-2 / EPCglobal Class-1 Generation-2  
キーワード(6)(和/英) キャプチャ効果 / Capture effect  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 神谷 尚保 / Naoyasu Kamiya / カミヤ ナオヤス
第1著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 三次 仁 / Jin Mitsugi / ミツギ ジン
第2著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 川喜田 佑介 / Yuusuke Kawakita / カワキタ ユウスケ
第3著者 所属(和/英) 電気通信大学 (略称: 電通大)
University of Electro-Communications (略称: Univ. of Electro-Communications)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 杉本 健一 / Kenichi Sugimoto / スギモト ケンイチ
第4著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 中村 修 / Osamu Nakamura / ナカムラ オサム
第5著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 村井 純 / Jun Murai / ムライ ジュン
第6著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2008-12-04 13:30:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SIS 
資料番号 SIS2008-49 
巻番号(vol) vol.108 
号番号(no) no.334 
ページ範囲 pp.39-44 
ページ数
発行日 2008-11-27 (SIS) 


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