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講演抄録/キーワード
講演名 2008-12-05 14:20
GAによる雑音除去のための劣化画像のみを用いた最適構造要素の推定
奥野裕之・○花田良子棟安実治関西大)・浅野 晃広島大
抄録 (和) モルフォロジ演算の一つであるopeningを用いてテクスチャ画像のインパルス性雑音除去を行う際,最適な多値構造要素を推定する必要がある.これまでに,劣化画像のみを用いた最適構造要素の推定法が提案され,その最適化手法にシミュレーテッドアニーリング(SA)が採用されている.従来手法のSAにおいては,形状のサイズを固定した近傍を用い,探索の進行とともに徐々にサイズを減少させていくことで構造を推定しているため,探索空間が限られる問題があった.本研究では,広大な解空間においても大域的な探索が可能な遺伝的アルゴリズム(GA)を採用し,構造要素のサイズも設計変数として最適な構造要素を推定する.数値例からGAが従来手法と比較してより良好な結果が得られることを示す. 
(英) To recover texture images from impulse noise by the opening operation which is one of morphological operations, an suitable structure element (SE) has to be estimated. Hitherto, an unsupervised design method for the SEs has been proposed, and it have adopted Simulated Annealing (SA) as an optimization method. In this approach, SEs are designed under a neighborhood structure which keeps the size of shape, and the size is gradually reduced in the search process. Due to this, the search space is restricted. In this paper, Genetic Algorithm (GA) which can search effectively on wide search spaces is applied. Through experiments, it is shown that our new approach outperformes conventional methods.
キーワード (和) テクスチャ画像 / インパルス雑音 / 構造要素 / 遺伝的アルゴリズム / モルフォロジ / / /  
(英) texture images / impulse noise / structuring element / genetic algorithm / morphology / / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 334, SIS2008-65, pp. 131-136, 2008年12月.
資料番号 SIS2008-65 
発行日 2008-11-27 (SIS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
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研究会情報
研究会 SIS  
開催期間 2008-12-04 - 2008-12-05 
開催地(和) 関西大学(千里山キャンパス) 
開催地(英) Kansai Univ. 
テーマ(和) システムオンシリコン,RFID技術および一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SIS 
会議コード 2008-12-SIS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) GAによる雑音除去のための劣化画像のみを用いた最適構造要素の推定 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) An Unsupervised Optimization of Structuring Elements for Image Denoising Using GA 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) テクスチャ画像 / texture images  
キーワード(2)(和/英) インパルス雑音 / impulse noise  
キーワード(3)(和/英) 構造要素 / structuring element  
キーワード(4)(和/英) 遺伝的アルゴリズム / genetic algorithm  
キーワード(5)(和/英) モルフォロジ / morphology  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 奥野 裕之 / Hiroyuki Okuno / オクノ ヒロユキ
第1著者 所属(和/英) 関西大学 (略称: 関西大)
Kansai University (略称: Kansai Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 花田 良子 / Yoshiko Hanada / ハナダ ヨシコ
第2著者 所属(和/英) 関西大学 (略称: 関西大)
Kansai University (略称: Kansai Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 棟安 実治 / Mitsuji Muneyasu / ムネヤス ミツジ
第3著者 所属(和/英) 関西大学 (略称: 関西大)
Kansai University (略称: Kansai Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 浅野 晃 / Akira Asano / アサノ アキラ
第4著者 所属(和/英) 広島大学大学院 (略称: 広島大)
Hiroshima University (略称: Hiroshima Univ.)
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講演者 第2著者 
発表日時 2008-12-05 14:20:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SIS 
資料番号 SIS2008-65 
巻番号(vol) vol.108 
号番号(no) no.334 
ページ範囲 pp.131-136 
ページ数
発行日 2008-11-27 (SIS) 


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