講演抄録/キーワード |
講演名 |
2008-12-12 13:25
故障の許容性に基づく閾値テスト生成のための回路モデル ○周藤健太・吉川祐樹・市原英行・井上智生(広島市大) DC2008-60 |
抄録 |
(和) |
近年のLSIの微細化,高性能化に伴いLSIの用途は幅広くなっており求められる信頼性も様々である.オーディオ,画像処理システム,ゲーム機などのように,故障が存在しても,わずかな誤りならば,目的とする処理に重大な影響を及ぼさないシステムも存在する.このような故障は許容故障と呼ばれ,許容故障を考慮したテスト生成手法も提案されている.本研究では,故障の許容性を考慮しない既存のATPGを用いて閾値テストパターンを生成する手法を提案する.テスト対象回路を変換することで得られる2つの回路モデル,許容故障判定モデルと閾値テスト生成モデルを提案し,その2つを用いテスト生成を行うことで,これまでに提案されている閾値テストパターン生成に特化したテスト生成アルゴリズムを用いることなしに閾値テストパターン生成が可能となる.実験では,提案する回路モデルの有効性を示す. |
(英) |
Threshold testing, which is an LSI testing method based on the acceptability of faults, is effective in yield enhancement of LSIs and selective hardening for LSI systems. In this study, we propose a test generation model for threshold testing. Using the proposed model, we can efficiently identify acceptable faults and generate test patterns for unacceptable faults with a general test generation algorithm, i.e., without a test generation algorithm specialized for threshold testing. Experimental results show the effectiveness of the the proposed model. |
キーワード |
(和) |
許容故障 / テスト生成 / 閾値 / 回路変換 / / / / |
(英) |
acceptable faults / test generation / threshold / circuit transformation / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 108, no. 352, DC2008-60, pp. 5-10, 2008年12月. |
資料番号 |
DC2008-60 |
発行日 |
2008-12-05 (DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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DC2008-60 |