| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-12-12 13:25 故障の許容性に基づく閾値テスト生成のための回路モデル ○周藤健太・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大）  DC2008-60 |
|
| 抄録 | （和） | 近年のLSIの微細化，高性能化に伴いLSIの用途は幅広くなっており求められる信頼性も様々である．オーディオ，画像処理システム，ゲーム機などのように，故障が存在しても，わずかな誤りならば，目的とする処理に重大な影響を及ぼさないシステムも存在する．このような故障は許容故障と呼ばれ，許容故障を考慮したテスト生成手法も提案されている．本研究では，故障の許容性を考慮しない既存のATPGを用いて閾値テストパターンを生成する手法を提案する．テスト対象回路を変換することで得られる2つの回路モデル，許容故障判定モデルと閾値テスト生成モデルを提案し，その2つを用いテスト生成を行うことで，これまでに提案されている閾値テストパターン生成に特化したテスト生成アルゴリズムを用いることなしに閾値テストパターン生成が可能となる．実験では，提案する回路モデルの有効性を示す． |
| （英） | Threshold testing, which is an LSI testing method based on the acceptability of faults, is effective in yield enhancement of LSIs and selective hardening for LSI systems. In this study, we propose a test generation model for threshold testing. Using the proposed model, we can efficiently identify acceptable faults and generate test patterns for unacceptable faults with a general test generation algorithm, i.e., without a test generation algorithm specialized for threshold testing. Experimental results show the effectiveness of the the proposed model. | |
| キーワード | （和） | 許容故障 / テスト生成 / 閾値 / 回路変換 / / / / |
| （英） | acceptable faults / test generation / threshold / circuit transformation / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 352, DC2008-60, pp. 5-10, 2008年12月. | |
| 資料番号 | DC2008-60 | |
| 発行日 | 2008-12-05 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2008-60 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2008-12-12 - 2008-12-12 |
| 開催地（和） | サンライフ萩 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 安全性および一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2008-12-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 故障の許容性に基づく閾値テスト生成のための回路モデル |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Test Generation Model for Threshold Testing |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 許容故障 / acceptable faults |
| キーワード(2)（和/英） | テスト生成 / test generation |
| キーワード(3)（和/英） | 閾値 / threshold |
| キーワード(4)（和/英） | 回路変換 / circuit transformation |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 周藤 健太 / Kenta Sutoh / ストウ ケンタ |
| 第1著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉川 祐樹 / Yuki Yoshikawa / ヨシカワ ユウキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 智生 / Tomoo Inoue / イノウエ トモオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-12-12 13:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2008-60 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.352 |
| ページ範囲 | pp.5-10 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-12-05 (DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]