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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-02-16 14:15 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて ○渡部哲也・高橋 寛・樋上喜信（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・高松雄三（愛媛大）  DC2008-74 |
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| 抄録 | （和） | 配線の微細化,長距離化に伴って,配線およびビアの断線（オープン）の欠陥によって生じる故障が顕在化している. オープン故障モデルにおいては,その故障励起が隣接信号線の影響をうけるため,テストパターンに依存する. 従って,テストパターンを生成するためには,LSIのレイアウト情報が必要となる. しかしながら,微細化が進むLSIの回路パラメータを正確に抽出することは容易ではない. そこで,本稿では,筆者らが提案したオープン故障のモデルに基づいて, 隣接信号線のみの情報でオープン故障のテストパターンを生成する方法を提案する. 最後に,提案したテスト生成法をベンチマーク回路に適用した評価実験を行う. |
| （英） | In modern manufacturing technologies with the shrinking of manufacturing process, LSIs may have several metal interconnect layers and the long copper interconnect wires. Under the modern manufacturing technologies, the open defect is the one of the significant issues. Under the open fault model with considering the affects of adjacent lines, excitation of the open fault is depended on the test patterns. Therefore, the layout information is needed to generate a test pattern for an open fault. However, it is not easy to extract accurate circuit parameters of a deep sub-micron LSI. We have already proposed an open fault model without using the accurate circuit parameters. In this paper, we propose a method for generating test patterns using only information about adjacent lines of the target open fault. Experimental results show that the proposed method is able to generate the test patterns for the open faults. |
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| キーワード | （和） | オープン故障 / テスト生成 / 隣接信号線 / / / / / |
| （英） | open faults / test generation / adjacent lines / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 431, DC2008-74, pp. 37-42, 2009年2月. | |
| 資料番号 | DC2008-74 | |
| 発行日 | 2009-02-09 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2008-74 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2009-02-16 - 2009-02-16 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2009-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On Tests to Detect Open faults with Considering Adjacent Lines |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | オープン故障 / open faults |
| キーワード(2)（和/英） | テスト生成 / test generation |
| キーワード(3)（和/英） | 隣接信号線 / adjacent lines |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 渡部 哲也 / Tetsuya Watanabe / ワタナベ テツヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ |
| 第3著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 堤 利幸 / Toshiyuki Tsutsumi / ツツミ トシユキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 明治大学 (略称： 明大) Meiji University (略称： Meiji Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山崎 浩二 / Koji Yamazaki / ヤマザキ コウジ |
| 第5著者 所属（和/英） | 明治大学 (略称： 明大) Meiji University (略称： Meiji Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi / ヨツヤナギ ヒロユキ |
| 第6著者 所属（和/英） | 徳島大学 (略称： 徳島大) University of Tokushima (略称： Univ, Tokushima) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume / ハシヅメ マサキ |
| 第7著者 所属（和/英） | 徳島大学 (略称： 徳島大) University of Tokushima (略称： Univ, Tokushima) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高松 雄三 / Yuzo Takamatsu / タカマツ ユウゾウ |
| 第8著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2009-02-16 14:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2008-74 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.431 |
| ページ範囲 | pp.37-42 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2009-02-09 (DC) |
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