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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-02-16 10:50 SATを用いたATPG困難故障に対する冗長故障判定の高速化 ○秋山祐介・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大）  DC2008-70 |
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| 抄録 | （和） | 近年，VLSIのテストではより100％の故障検出効率が求められている．しかしながら，VLSIの大規模化や複雑化に伴い，検出可能故障か冗長故障であるかを現実的な時間でATPGが判断することが不可能な故障が増大している．それらの処理が打ち切られた故障は未検出故障として処理されてしまうため，故障検出効率100％のテストパターン集合を得ることは困難である．打ち切り故障は，実際には冗長故障であることが多い．それゆえ，冗長故障を効率よく判定する技術が重要になる．本稿では従来の冗長故障判定法に充足可能性問題の解法を用いた正当化可能判定処理を付加した手法を提案する．ITC’99ベンチマーク回路を用いて本提案手法の有効性を示す． |
| （英） | Recently, 100% Fault coverage required in VLSI testing. However, ATPG algorithms can not classify all hard-to-test faults in reasonable time. The number of unclassified faults increase with high complexity and density of VLSIs. It is hard to generate a test pattern set with 100% fault efficiency because aborted faults are recognized as undetected faults. It is reported that many of undetected faults are redundant faults. Therefore, it is very important to identify redundant faults efficiently. On this paper, we propose a redundant fault identification method using SAT for justification processing Experimental results show that own method in effective for ITC’99 benchmark circuits. | |
| キーワード | （和） | SAT / ATPG困難故障 / 冗長故障判定 / 再収斂 / 正当化 / / / |
| （英） | SAT / Hard-to-ATPG faults / Redundancy identification / Reconvergence / Justification / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 431, DC2008-70, pp. 13-18, 2009年2月. | |
| 資料番号 | DC2008-70 | |
| 発行日 | 2009-02-09 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2008-70 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2009-02-16 - 2009-02-16 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2009-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | SATを用いたATPG困難故障に対する冗長故障判定の高速化 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On the Acceleration of Redundancy Identification for Hard-to-ATPG faults Using SAT |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | SAT / SAT |
| キーワード(2)（和/英） | ATPG困難故障 / Hard-to-ATPG faults |
| キーワード(3)（和/英） | 冗長故障判定 / Redundancy identification |
| キーワード(4)（和/英） | 再収斂 / Reconvergence |
| キーワード(5)（和/英） | 正当化 / Justification |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 秋山 祐介 / Yusuke Akiyama / アキヤマ ユウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyusyu University (略称： Kyusyu Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山崎 浩二 / Koji Yamazaki / ヤマザキ コウジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 明治大学 (略称： 明大) Meiji University (略称： Meiji Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2009-02-16 10:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2008-70 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.431 |
| ページ範囲 | pp.13-18 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2009-02-09 (DC) |
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