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講演抄録/キーワード
講演名
2009-02-16 14:40
ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル
○
新井雅之
・
周藤明史
・
岩崎一彦
(
首都大東京
)・
中野勝幸
・
新谷道広
・
畠山一実
・
相京 隆
(
半導体理工学研究センター
)
DC2008-75
抄録
(和)
(まだ登録されていません)
(英)
(Not available yet)
キーワード
(和)
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(英)
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文献情報
信学技報, vol. 108, no. 431, DC2008-75, pp. 43-48, 2009年2月.
資料番号
DC2008-75
発行日
2009-02-09 (DC)
ISSN
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード
DC2008-75
研究会情報
研究会
DC
開催期間
2009-02-16 - 2009-02-16
開催地(和)
機械振興会館
開催地(英)
テーマ(和)
VLSI設計とテストおよび一般
テーマ(英)
講演論文情報の詳細
申込み研究会
DC
会議コード
2009-02-DC
本文の言語
日本語
タイトル(和)
ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル
サブタイトル(和)
タイトル(英)
Note on Small Delay Fault Model for Intra-Gate Resistive Open Defects
サブタイトル(英)
キーワード(1)(和/英)
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キーワード(2)(和/英)
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キーワード(3)(和/英)
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キーワード(4)(和/英)
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キーワード(5)(和/英)
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キーワード(6)(和/英)
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キーワード(7)(和/英)
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キーワード(8)(和/英)
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ)
新井 雅之
/
Masayuki Arai
/
アライ マサユキ
第1著者 所属(和/英)
首都大学東京
(略称:
首都大東京
)
Tokyo Metropolitan University
(略称:
Tokyo Metro. Univ.
)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ)
周藤 明史
/
Akifumi Suto
/
ストウ アキフミ
第2著者 所属(和/英)
首都大学東京
(略称:
首都大東京
)
Tokyo Metropolitan University
(略称:
Tokyo Metro. Univ.
)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ)
岩崎 一彦
/
Kazuhiko Iwasaki
/
イワサキ カズヒコ
第3著者 所属(和/英)
首都大学東京
(略称:
首都大東京
)
Tokyo Metropolitan University
(略称:
Tokyo Metro. Univ.
)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ)
中野 勝幸
/
Katsuyuki Nakano
/
ナカノ カツユキ
第4著者 所属(和/英)
株式会社半導体理工学研究センター
(略称:
半導体理工学研究センター
)
Semiconductor Technology Academic Research Center
(略称:
STARC
)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ)
新谷 道広
/
Michihiro Shintani
/
シンタニ ミチヒロ
第5著者 所属(和/英)
株式会社半導体理工学研究センター
(略称:
半導体理工学研究センター
)
Semiconductor Technology Academic Research Center
(略称:
STARC
)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ)
畠山 一実
/
Kazumi Hatayama
/
ハタヤマ カズミ
第6著者 所属(和/英)
株式会社半導体理工学研究センター
(略称:
半導体理工学研究センター
)
Semiconductor Technology Academic Research Center
(略称:
STARC
)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ)
相京 隆
/
Takashi Aikyo
/
アイキョウ タカシ
第7著者 所属(和/英)
株式会社半導体理工学研究センター
(略称:
半導体理工学研究センター
)
Semiconductor Technology Academic Research Center
(略称:
STARC
)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第8著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第9著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第10著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第11著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第12著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第13著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第14著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第15著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第16著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第17著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第18著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第19著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第20著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
講演者
第1著者
発表日時
2009-02-16 14:40:00
発表時間
25分
申込先研究会
DC
資料番号
DC2008-75
巻番号(vol)
vol.108
号番号(no)
no.431
ページ範囲
pp.43-48
ページ数
6
発行日
2009-02-09 (DC)
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