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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-02-16 15:20 検出容易故障に着目したドントケア数増加手法 ～ BASTアーキテクチャへの適用 ～ ○万 玲玲・若園大洋・細川利典（日大）・吉村正義（九大）  DC2008-76 |
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| 抄録 | （和） | LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組み込み自己テストと自動テスト生成を組み合わせたテスト手法であるBASTが提案されている．BASTアーキテクチャにおいて，擬似ランダムパターン生成器で生成された擬似ランダムパターンを決定的パターンに変換するためにビット反転を用いている．テストデータ量やテスト実行時間を削減するためには，ビット反転数を削減する必要がある．本論文では，検出回数がN回以下である故障集合を検出するために，不必要な値をドントケアとするランダムパターンレジスタント故障用ドントケア抽出法を提案する．さらに，擬似ランダムパターンのビット反転数を削減するために，決定的パターン集合に対してランダムパターンレジスタント故障用ドントケア抽出を適用して，擬似ランダムパターンとマッピングする手法を提案する. ISCAS’89 とITC’99のベンチマック回路に対して計算機実験を行い， 本提案手法がビット反転数削減に効果的であることを示す． |
| （英） | The BIST Aided Scan Test (BAST) is a technique that combines the automatic test pattern generator (ATPG) and the Built-In-Self-Test (BIST) to reduce test data volume while maintaining high test quality. On BAST architecture, a bit-flipping technique is used to convert pseudo-random patterns to deterministic patterns. In this paper, we propose a don't care identification technique for random-pattern-registant faults to identify unnecessary signal values to detect a fault set as don't care bits. Random-pattern-registant faults are defined as the detection time for each fault by a given test pattern set, this time is equal to or less than N. We also propose a method of mapping between a pseudo-random pattern set and a deterministic pattern set for random-pattern-registant faults to which the don’t care identification technique is applied. We apply the proposed method to ISCAS’89 and ITC’99 benchmark circuits and show that the proposed method effectively reduces the number of bit-flips and test application times. |
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| キーワード | （和） | BASTアーキテクチャ / ドントケア抽出 / 反転数削減 / マッピング / ランダムパターンレジスタント / / / |
| （英） | BAST architecture / don’t care identification / bit-flipping reduction / mapping / random-pattern-registant fault / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 431, DC2008-76, pp. 49-54, 2009年2月. | |
| 資料番号 | DC2008-76 | |
| 発行日 | 2009-02-09 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2008-76 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2009-02-16 - 2009-02-16 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2009-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 検出容易故障に着目したドントケア数増加手法 |
| サブタイトル（和） | BASTアーキテクチャへの適用 |
| タイトル（英） | A Method to Increase the Number of Don't care based on Easy- To-Detected Faults |
| サブタイトル（英） | Application for BAST Architecture |
| キーワード(1)（和/英） | BASTアーキテクチャ / BAST architecture |
| キーワード(2)（和/英） | ドントケア抽出 / don’t care identification |
| キーワード(3)（和/英） | 反転数削減 / bit-flipping reduction |
| キーワード(4)（和/英） | マッピング / mapping |
| キーワード(5)（和/英） | ランダムパターンレジスタント / random-pattern-registant fault |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 万 玲玲 / LingLing Wan / マン レイレイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学院 (略称： 日大) Graduate School of Nihon University (略称： Graduate Schoo of Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 若園 大洋 / Motohiro Wakazono / ワカゾノ モトヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学院 (略称： 日大) Graduate School of Nihon University (略称： Graduate School of Nihon Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyushu University (略称： Kyushu Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2009-02-16 15:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2008-76 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.431 |
| ページ範囲 | pp.49-54 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2009-02-09 (DC) |
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