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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-03-13 13:50 nMOSレベルシフタ回路の性能比較 ○大津 誠・築山修治（中大）・白川 功（兵庫県立大）・西 修司・永井知幸・久保田 靖（シャープ）  VLD2008-164 |
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| 抄録 | （和） | 小型液晶ディスプレイの駆動回路は液晶と同じ基板上に形成されるため，nMOSトランジスタだけで構成すれば，プロセス数を削減でき，コスト低減が図れる．ここでは，重要な基本回路の一つであるレベルシフタに着目し，3つの既存回路と新たに提案する3つの回路を，回路面積，遅延時間，消費電力，およびしきい値電圧ばらつきに対する耐性の観点から比較した結果を紹介する．また，比較によって得られた知見を基に，しきい値電圧のばらつきに強いレベルシフタ回路の設計手法も提案する． |
| （英） | Driver circuits for small liquid crystal displays are usually formed on the same glass as the liquid crystal. Hence, if they are composed of nMOS transistors only, then the production cost can be reduced by eliminating the pMOS process. In this paper, we propose three new nMOS level shifters, which are one of important basic module of the driver circuit, and evaluate their performances by comparing with the previous circuits from the view points of area, delay, power, and tolerance to the variability of threshold voltage. Moreover, based on the comparisons, we propose a new design method to increase the tolerance to the variability of threshold voltage. | |
| キーワード | （和） | nMOSレベルシフタ / 回路性能 / 評価手法 / ばらつき耐性 / 液晶ディスプレイ / / / |
| （英） | nMOS level shifter / circuit performance / evaluation method / tolerance to variability / liquid crystal display / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 478, VLD2008-164, pp. 225-230, 2009年3月. | |
| 資料番号 | VLD2008-164 | |
| 発行日 | 2009-03-04 (VLD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2008-164 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
| 開催期間 | 2009-03-11 - 2009-03-13 |
| 開催地（和） | 沖縄県男女共同参画センター |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術 |
| テーマ（英） | Design Technology for a System-on-Silicon |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2009-03-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | nMOSレベルシフタ回路の性能比較 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Performance Evaluations of nMOS Level Shifter Circuits |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | nMOSレベルシフタ / nMOS level shifter |
| キーワード(2)（和/英） | 回路性能 / circuit performance |
| キーワード(3)（和/英） | 評価手法 / evaluation method |
| キーワード(4)（和/英） | ばらつき耐性 / tolerance to variability |
| キーワード(5)（和/英） | 液晶ディスプレイ / liquid crystal display |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大津 誠 / Makoto Otsu / オオツ マコト |
| 第1著者 所属（和/英） | 中央大学 (略称： 中大) Chuo University (略称： Chuo Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 築山 修治 / Shuji Tsukiyama / ツキヤマ シュウジ |
| 第2著者 所属（和/英） | 中央大学 (略称： 中大) Chuo University (略称： Chuo Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 白川 功 / Isao Shirakawa / シラカワ イサオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 兵庫県立大学 (略称： 兵庫県立大) University of Hyogo (略称： Univ. of Hyogo) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 西 修司 / Shuji Nishi / ニシ シュウジ |
| 第4著者 所属（和/英） | シャープ株式会社 (略称： シャープ) Sharp Corporation (略称： Sharp Corp.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永井 知幸 / Tomoyuki Nagai / ナガイ トモユキ |
| 第5著者 所属（和/英） | シャープ株式会社 (略称： シャープ) Sharp Corporation (略称： Sharp Corp.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 久保田 靖 / Yasushi Kubota / クボタ ヤスシ |
| 第6著者 所属（和/英） | シャープ株式会社 (略称： シャープ) Sharp Corporation (略称： Sharp Corp.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2009-03-13 13:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2008-164 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.478 |
| ページ範囲 | pp.225-230 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2009-03-04 (VLD) |
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