講演抄録/キーワード |
講演名 |
2009-03-13 10:40
レイアウトを考慮した基板バイアスクラスタリング手法 ○濱本浩一(阪大)・橋本昌宜・密山幸男・尾上孝雄(阪大/JST) VLD2008-159 |
抄録 |
(和) |
近年、基板バイアス制御によるLSIの性能補償に関する研究が多く行われている。従来、回路ブロックが基板バイアス制御の空間的粒度となっていたが、回路ブロック内のゲートをクラスタ化することで性能補償時のリーク電力を減らす試みが提案されている。しかし、従来研究ではクラスタリングの際にレイアウトが考慮されていない。また、製造後の性能補償にかかるコストが大きいという問題がある。本研究では、低コストな製造後の性能補償手法を考え、それを実現するためのレイアウトを考慮した基板バイアスクラスタリング手法を提案する。超低電圧回路に提案手法を適用した実験結果により本手法の有効性を示す。 |
(英) |
Body bias control has been widely studied for performance compensation. In order to reduce leakage increase involved by performance compensation, body bias clustering methods which cluster gates in a circuit block are proposed. However, conventional methods have two problems. First, they do not care cell placement while clustering gates. Second, they require large test cost for post-silicon performance tuning. We propose a low-cost tuning scheme after fabrication and a layout aware body bias clustering method. We applied the proposed method to ultra-low voltage circuits and demonstrated effectiveness of the proposed method. |
キーワード |
(和) |
基板バイアス / 基板バイアスクラスタリング / レイアウト / 性能補償 / / / / |
(英) |
body bias / body bias clustering / layout / performance compensation / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 108, no. 478, VLD2008-159, pp. 195-200, 2009年3月. |
資料番号 |
VLD2008-159 |
発行日 |
2009-03-04 (VLD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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