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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-04-21 15:45 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について ○深澤祐樹・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大）  CPSY2009-7 DC2009-7 |
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| 抄録 | （和） | 組込み自己テスト(BIST)手法において，テスト生成器や応答圧縮器などのBIST回路が故障すると被テスト回路のテストを適切に行えない可能性があり，歩留まりの低下や，市場不良の影響が懸念される．本研究では，BIST回路の同時テスト可能性（BIST回路を用いた被テスト回路(CUT)のテスト時にBIST回路も同時にテスト可能であること）に着目し，同時テスト可能な応答圧縮器である符号化応答圧縮器を提案する．さらに反復符号と巡回符号を用いた符号化応答圧縮器の設計手順とその能力を示す．実験では符号化応答圧縮器の同時テスト可能性と面積オーバヘッドの関係を明らかにする． |
| （英） | In the BIST(Built-in self-test) scheme, the occurrence of faults in BIST circuits, e.g., test generators and response compactors, causes unreliable testing of chips, so that it results in filed defects of the chips and yield loss. In this study, we focus on a concurrent testability of BIST circuits. Testing a circuit-under-test (CUT) , a concurrently testable BIST circuit can test itself, and distinguish the faults in the BIST circuits from those in the CUT based on an obtained signature. We propose a concurrently testable response compactor, called a coding response compactor, and present two instances of coding response compactors, which are based on repetition codes and cyclic codes. Experimental results show the relationship between the concurrently testability and area overhead for the proposed coding response compactors. |
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| キーワード | （和） | 組込み自己テスト / 応答圧縮器 / 符号化 / 同時テスト / / / / |
| （英） | Built-in self-test / MISR compactor / coding / concurrent test / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 12, DC2009-7, pp. 37-42, 2009年4月. | |
| 資料番号 | DC2009-7 | |
| 発行日 | 2009-04-14 (CPSY, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPSY2009-7 DC2009-7 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC CPSY |
| 開催期間 | 2009-04-21 - 2009-04-21 |
| 開催地（和） | 首都大秋葉原サテライトキャンパス |
| 開催地（英） | Akihabara Satellite Campus, Tokyo Metropolitan Univ. |
| テーマ（和） | ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術（および一般） |
| テーマ（英） | Dependable Computer Systems, Security Technology, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2009-04-DC-CPSY |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A design of testable response analyzers in built-in self-test |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 組込み自己テスト / Built-in self-test |
| キーワード(2)（和/英） | 応答圧縮器 / MISR compactor |
| キーワード(3)（和/英） | 符号化 / coding |
| キーワード(4)（和/英） | 同時テスト / concurrent test |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 深澤 祐樹 / Yuki Fukazawa / フカザワ ユウキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉川 祐樹 / Yuki Yoshikawa / ヨシカワ ユウキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 智生 / Tomoo Inoue / イノウエ トモオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2009-04-21 15:45:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | CPSY2009-7, DC2009-7 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.11(CPSY), no.12(DC) |
| ページ範囲 | pp.37-42 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2009-04-14 (CPSY, DC) |
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