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講演抄録/キーワード
講演名 2009-05-29 09:30
シングル掃引周波数平均法を用いた高精度光周波数領域リフレクトメトリ
何 祖源・○山下 健二 ホドリーゴ保立和夫東大OFT2009-11
抄録 (和) 高空間分解能,高感度と広ダイナミックレンジをもつ光周波数領域リフレクトメトリ(OFDR)は光ファイバデバイス・ネットワークの診断や光コヒーレントトモグラフィ(OCT)に応用されてきた.OFDRにおいて,被測定ファイバ内のランダムな後方散乱と多重反射が干渉してフェイディングノイズというノイズのような現象を起こし,このノイズを低減させるために異なる中心周波数を用いた測定結果を平均する手法がある.但し,これを実現する一般的な方法は光源の複数回の周波数掃引を必要とし,測定時間が長くなってしまう.
本研究では,単一の光周波数掃引で得られたデータを平均する手法を提案し,光ファイバレーザーを用いた実験系でその性能を確認した.このシステムのノイズフロアは-110dBで,データ処理を含む測定時間は数秒以内に抑えることができた. 
(英) With fine spatial resolution, high sensitivity and broad dynamic range, optical frequency domain reflectometry (OFDR) has been applied to fiber device/network diagnoses and optical coherence tomography. In OFDR, interference between random reflections/backscattering in the fiber under test creates a noise-like effect called fading noise, which can be reduced by measuring at different wavelengths/frequencies and taking the average. However, the typical process to realize this averaging consists of shifting the central frequency of the light source in multiple sweeps, requiring a long measurement time.
In this report, we proposed a technique of single-sweep frequency averaging, which consists of averaging data acquired in a single sweep. Its efficiency was verified in a fiber laser based system with -110 dB noise floor and the measurement time including data processing was only a few seconds.
キーワード (和) 光周波数領域リフレクトメトリ / OFDR / コヒーレントフェイディングノイズ / 周波数平均 / / / /  
(英) optical frequency domain reflectometry / OFDR / coherent fading noise / frequency averaging / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 59, OFT2009-11, pp. 51-54, 2009年5月.
資料番号 OFT2009-11 
発行日 2009-05-21 (OFT) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード OFT2009-11

研究会情報
研究会 OFT  
開催期間 2009-05-28 - 2009-05-29 
開催地(和) 住友電気工業?南箱根セミナーハウス 
開催地(英)  
テーマ(和) 高機能光ファイバ及び一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 OFT 
会議コード 2009-05-OFT 
本文の言語 英語(日本語タイトルあり) 
タイトル(和) シングル掃引周波数平均法を用いた高精度光周波数領域リフレクトメトリ 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) High-accuracy optical frequency domain reflectometry by single-sweep frequency-averaging 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 光周波数領域リフレクトメトリ / optical frequency domain reflectometry  
キーワード(2)(和/英) OFDR / OFDR  
キーワード(3)(和/英) コヒーレントフェイディングノイズ / coherent fading noise  
キーワード(4)(和/英) 周波数平均 / frequency averaging  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 何 祖源 / Zuyuan He / カ ソゲン
第1著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 山下 健二 ホドリーゴ / Rodrigo Kendy Yamashita / ヤマシタ ケンジ ホドリーゴ
第2著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 保立 和夫 / Kazuo Hotate / ホタテ カズオ
第3著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo)
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講演者 第2著者 
発表日時 2009-05-29 09:30:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 OFT 
資料番号 OFT2009-11 
巻番号(vol) vol.109 
号番号(no) no.59 
ページ範囲 pp.51-54 
ページ数
発行日 2009-05-21 (OFT) 


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