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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-06-19 14:45 事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト ○埜田健治・伊藤秀昭・畠山一実・相京 隆（半導体理工学研究センター）  DC2009-15 |
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| 抄録 | （和） | 低電力設計の進展とともに，テスト時の電力消費とIRドロップの問題は重大化している．過剰な電力消費やIRドロップによるテスタフェールやクロックの遅れによる見逃し不良などが現場での問題として認識されている．本論文では，電力およびノイズを考慮したスキャンテスト方法を提案する．その特徴は，事前のテスト時電力・ノイズの見積り結果に基づき，テスト容易化設計(DFT)やテスト生成(ATPG)を実行する点にある．評価実験によりスキャンシフト時およびスキャンキャプチャ時のIRドロップが効果的に低減されることを示す． |
| （英） | Advances in low power design technologies is making issues on power dissipation and IR-drop in testing more serious. Excessive test power or excessive IR-drop in testing can sometimes cause tester fails or yield losses in test floor. This paper proposes a power and noise aware scan test methodology to overcome the issues. The proposed methodology utilizes the result of preliminary estimation of power dissipation and IR-drop in testing in design for testability and automatic test pattern generation. Experimental results illustrate the effectiveness of our methodology for reducing maximum IR-drops in both scan shifting and scan capturing effectively. |
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| キーワード | （和） | テスト時消費電力 / スキャンテスト / IRドロップ / 事前見積り / / / / |
| （英） | Test Power / Scan Testing / IR-Drop / Preliminary Estimation / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 95, DC2009-15, pp. 29-30, 2009年6月. | |
| 資料番号 | DC2009-15 | |
| 発行日 | 2009-06-12 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2009-15 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2009-06-19 - 2009-06-19 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2009-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Power & Noise Aware Test Utilizing Preliminary Estimation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | テスト時消費電力 / Test Power |
| キーワード(2)（和/英） | スキャンテスト / Scan Testing |
| キーワード(3)（和/英） | IRドロップ / IR-Drop |
| キーワード(4)（和/英） | 事前見積り / Preliminary Estimation |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 埜田 健治 / Kenji Noda / ノダ ケンジ |
| 第1著者 所属（和/英） | 半導体理工学研究センター (略称： 半導体理工学研究センター) Semiconductor Technology Academic Research Center (略称： STARC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊藤 秀昭 / Hideaki Ito / イトウ ヒデアキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 半導体理工学研究センター (略称： 半導体理工学研究センター) Semiconductor Technology Academic Research Center (略称： STARC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 畠山 一実 / Kazumi Hatayama / ハタヤマ カズミ |
| 第3著者 所属（和/英） | 半導体理工学研究センター (略称： 半導体理工学研究センター) Semiconductor Technology Academic Research Center (略称： STARC) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 相京 隆 / Takashi Aikyo / アイキョウ タカシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 半導体理工学研究センター (略称： 半導体理工学研究センター) Semiconductor Technology Academic Research Center (略称： STARC) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2009-06-19 14:45:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2009-15 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.95 |
| ページ範囲 | pp.29-30 |
| ページ数 | 2 |
| 発行日 | 2009-06-12 (DC) |
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