研究会情報 |
研究会 |
SDM |
開催期間 |
2009-06-19 - 2009-06-19 |
開催地(和) |
東京大学(生産研An棟) |
開催地(英) |
An401・402 Inst. Indus. Sci., The Univ. of Tokyo |
テーマ(和) |
ゲート絶縁薄膜、容量膜、機能膜およびメモリ技術(応用物理学会、シリコンテクノロジー分科会、第113研究集会「ゲートスタック研究の進展-Ge系材料を中心に」との合同開催) |
テーマ(英) |
Science and Technology for Dielectric Thin Films for MIS Devices |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
SDM |
会議コード |
2009-06-SDM |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
ドープした金属シリサイドの電子構造に関する理論的検討 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Theoretical investigation about electronic structure of doping metal silicide |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
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キーワード(2)(和/英) |
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キーワード(3)(和/英) |
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キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
五月女 真一 / Shinichi Sotome / |
第1著者 所属(和/英) |
千葉大学 (略称: 千葉大)
Chiba University (略称: Chiba Univ) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
中山 隆史 / Takashi Nakayama / |
第2著者 所属(和/英) |
千葉大学 (略称: 千葉大)
Chiba University (略称: Chiba Univ) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第3著者 所属(和/英) |
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第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 所属(和/英) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2009-06-19 16:55:00 |
発表時間 |
5分 |
申込先研究会 |
SDM |
資料番号 |
SDM2009-43 |
巻番号(vol) |
vol.109 |
号番号(no) |
no.87 |
ページ範囲 |
pp.93-97 |
ページ数 |
5 |
発行日 |
2009-06-12 (SDM) |