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講演抄録/キーワード
講演名 2009-06-24 16:15
Current Controlled MOS Current Mode Logic with Auto-detection of Threshold Voltage Fluctuation
Tetsuo EndohHyoungjun NaTohoku Univ.ED2009-55 SDM2009-50
抄録 (和) A Current Controlled (CC-) MOS Current Mode Logic (MCML) circuit based on auto-detection of threshold voltage (Vth) fluctuation is proposed. This proposed circuit suppresses the degradation of circuit performance induced by the Vth fluctuations of the transistors automatically, by detecting the Vth fluctuations of the transistor. When the Vth fluctuation over $\pm 0.1$V occurs on the pair transistors of the circuit, the minimum value of the dc gain is increased by about 111 times by using the proposed circuit. Furthermore, it is shown that the maximum operating frequency of the circuit is increased from 0 GHz to 24.8 GHz when the Vth fluctuation of $\pm 0.1$V occurs in the transistors of the circuit, by using the proposed new circuit technology. 
(英) A Current Controlled (CC-) MOS Current Mode Logic (MCML) circuit based on auto-detection of threshold voltage (Vth) fluctuation is proposed. This proposed circuit suppresses the degradation of circuit performance induced by the Vth fluctuations of the transistors automatically, by detecting the Vth fluctuations of the transistor. When the Vth fluctuation over $\pm 0.1$V occurs on the pair transistors of the circuit, the minimum value of the dc gain is increased by about 111 times by using the proposed circuit. Furthermore, it is shown that the maximum operating frequency of the circuit is increased from 0 GHz to 24.8 GHz when the Vth fluctuation of $\pm 0.1$V occurs in the transistors of the circuit, by using the proposed new circuit technology.
キーワード (和) MCML / Vth / しきい値ばらつき / MOSFET / / / /  
(英) MCML / Vth / Threshold Voltage Fluctuation / MOSFET / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 98, SDM2009-50, pp. 21-24, 2009年6月.
資料番号 SDM2009-50 
発行日 2009-06-17 (ED, SDM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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PDFダウンロード ED2009-55 SDM2009-50

研究会情報
研究会 SDM ED  
開催期間 2009-06-24 - 2009-06-26 
開催地(和) 海雲台グランドホテル(釜山、韓国) 
開催地(英) Haeundae Grand Hotel, Busan, Korea 
テーマ(和) 第17回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2009) 
テーマ(英) 2009 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2009-06-SDM-ED 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Current Controlled MOS Current Mode Logic with Auto-detection of Threshold Voltage Fluctuation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) MCML / MCML  
キーワード(2)(和/英) Vth / Vth  
キーワード(3)(和/英) しきい値ばらつき / Threshold Voltage Fluctuation  
キーワード(4)(和/英) MOSFET / MOSFET  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 遠藤 哲郎 / Tetsuo Endoh / エンドウ テツオ
第1著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 羅 炯竣 / Hyoungjun Na / ナ ヒョンジュン
第2著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2009-06-24 16:15:00 
発表時間 15分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 ED2009-55, SDM2009-50 
巻番号(vol) vol.109 
号番号(no) no.97(ED), no.98(SDM) 
ページ範囲 pp.21-24 
ページ数
発行日 2009-06-17 (ED, SDM) 


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