| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-06-30 13:30 非接触測定による動作中ICの電流分布に関する実験的検討 ○渡辺拓人・橋本 修（青学大）  MW2009-23 エレソ技報アーカイブへのリンク：MW2009-23 |
|
| 抄録 | （和） | 近年，電子機器の急速な発展に伴いLSI(Large Scale Integration)の微細化が急速に進んでいる．しかしながら，低電圧化によるノイズマージンの低下，信号の高速化によるLSIからの不要放射などの問題を抱えるようになり，電磁波ノイズが他の電子機器に与える影響が問題視されている．本研究では，このような不要電磁波放射の要因の一つとして，電子回路基板上を流れる高周波電流に着目し，その電流分布の推定法について検討を行ってきた．本報告では，電子回路基板に実装された動作状態におけるIC表面の二次元磁界分布を測定し，その測定結果からICの電流分布を推定した．その結果，周波数帯の違いにより電流密度および電流分布が，それぞれ異なる様子が確認できた． |
| （英） | With the innovative miniaturization and the high speed operation of the recent electric devices, the operating frequency of the recent LSI(Large Scale Integration) reached to the incredibly high frequency range. Hence, the leakage electromagnetic emission from these devices also gets to the high frequency range. And it is taken up as problems that these electromagnetic emissions have affects on the other devices as interference, In this study, We focused on the packaged IC mounted on the PCB and estimated currents distribution of the packaged IC. As a result, we could observe the high frequency characteristics of current intensity and current distribution. | |
| キーワード | （和） | 非接触測定 / 磁界プローブ / 近傍磁界 / 電流分布 / / / / |
| （英） | Non-contact Measurement / Magnetic Field Probe / Near Magnetic Field / Current Distribution / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 109, MW2009-23, pp. 25-30, 2009年6月. | |
| 資料番号 | MW2009-23 | |
| 発行日 | 2009-06-23 (MW) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | MW2009-23 エレソ技報アーカイブへのリンク：MW2009-23 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW |
| 開催期間 | 2009-06-30 - 2009-06-30 |
| 開催地（和） | 名工大 |
| 開催地（英） | Nagoya Institute of Technology |
| テーマ（和） | マイクロ波信号発生と計測技術／一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | MW |
| 会議コード | 2009-06-MW |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 非接触測定による動作中ICの電流分布に関する実験的検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Experimental Study for Current Distribution of ICs under the operation by Non-contact Measurement |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 非接触測定 / Non-contact Measurement |
| キーワード(2)（和/英） | 磁界プローブ / Magnetic Field Probe |
| キーワード(3)（和/英） | 近傍磁界 / Near Magnetic Field |
| キーワード(4)（和/英） | 電流分布 / Current Distribution |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 渡辺 拓人 / Takuto Watanabe / ワタナベ タクト |
| 第1著者 所属（和/英） | 青山学院大学 (略称： 青学大) Aoyama Gakuin University (略称： Aoyama Gakuin Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋本 修 / Osamu Hashimoto / ハシモト オサム |
| 第2著者 所属（和/英） | 青山学院大学 (略称： 青学大) Aoyama Gakuin University (略称： Aoyama Gakuin Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第3著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第4著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第5著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第6著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第7著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第8著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第9著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第10著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第11著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第12著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第13著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第14著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第15著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第16著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第17著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2009-06-30 13:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | MW |
| 資料番号 | MW2009-23 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.109 |
| ページ範囲 | pp.25-30 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2009-06-23 (MW) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]