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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-08-20 15:40 高密度量子ドットを用いた1.3μm帯ストライプレーザの低しきい値電流動作 ○天野 建・菅谷武芳・小森和弘・森 雅彦（産総研）  EMD2009-39 CPM2009-63 OPE2009-87 LQE2009-46 |
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| 抄録 | （和） | 量子ドットレーザは超低しきい値、高速変調動作、温度無依存化などが可能な次世代半導体レーザとして期待されている．我々はこれまでに量子ドットの高密度化を実現し、これを用いた半導体レーザの高利得特性などの特性向上を実現してきた．今回は導波路構造に本研究で提案するHEM構造を採用する事で，ミラー損失が16cm-1と大きな構造（0.75mmの共振器長と高反射ミラー無し）においても，7mＡの低しきい値電流動作を達成したので報告する． |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | 量子ドット / 低しきい値 / 高密度化 / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 176, LQE2009-46, pp. 69-72, 2009年8月. | |
| 資料番号 | LQE2009-46 | |
| 発行日 | 2009-08-13 (EMD, CPM, OPE, LQE) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2009-39 CPM2009-63 OPE2009-87 LQE2009-46 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | OPE EMD CPM LQE |
| 開催期間 | 2009-08-20 - 2009-08-21 |
| 開催地（和） | 東北大学 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 光部品・電子デバイス実装技術、一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | LQE |
| 会議コード | 2009-08-OPE-EMD-CPM-LQE |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 高密度量子ドットを用いた1.3μm帯ストライプレーザの低しきい値電流動作 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Low threshold current operation of 1.3 μm high density quantum fot laser |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 量子ドット / |
| キーワード(2)（和/英） | 低しきい値 / |
| キーワード(3)（和/英） | 高密度化 / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 天野 建 / Takeru Amano / アマノ タケル |
| 第1著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 菅谷 武芳 / Takeyoshi Sugaya / スガヤ タケヨシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小森 和弘 / Kazuhiro Komori / コモリ カズヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 森 雅彦 / Masahiko Mori / モリ マサヒコ |
| 第4著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2009-08-20 15:40:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | LQE |
| 資料番号 | EMD2009-39, CPM2009-63, OPE2009-87, LQE2009-46 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.173(EMD), no.174(CPM), no.175(OPE), no.176(LQE) |
| ページ範囲 | pp.69-72 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2009-08-13 (EMD, CPM, OPE, LQE) |
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