ご案内 入会して研究会活動をもっとお得に!研究会参加費・年間登録費が会員価格になります。
お知らせ 【重要】研究会参加費の支払いおよび原稿アップロード手続きの変更に関するご案内
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2009-09-30 10:55
マイクロLFB超音波材料解析システムのZnO単結晶評価への応用
吉田 翔大橋雄二荒川元孝櫛引淳一坂上 登東北大US2009-51
抄録 (和) 直線集束ビーム超音波材料解析(LFB-UMC)システムの空間分解能を向上させたマイクロLFBデバイスを用いてZnO単結晶の評価を試みた。水熱合成法で作製された2個のZnO単結晶試料を準備し、ひとつは{001}面(±c面)、{100}面(m面)、{101}面(p面)に対して、もうひとつは種結晶を含む断面(±c面)に対してLSAW速度分布を測定した。前者の試料の+c面とm面は高抵抗で、-c面とp面は低抵抗であった。後者の試料は、種結晶と考えられる高抵抗な領域の周りに低抵抗領域があり、さらにその周りには再び高抵抗な領域があった。これはZnO単結晶の育成条件の変化を捉えたものと考えられ、この情報は結晶成長プロセスの理解に貢献できる。また、YX-ZnOを標準試料(圧電が関与しない)とすることで安定したシステム校正が簡易的に行えることを示した。 
(英) We evaluated ZnO single crystals using a micro-line-focus-beam ultrasonic material characterization (LFB-UMC) system with an improved spatial resolution. We prepared two small ZnO single crystals grown by the hydrothermal synthesis method. Leaky surface acoustic waves (LSAWs) velocity distributions were measured at 225 MHz for {001} (c-plane), {100} (m-plane), and {101} (p-plane) of one specimen and cross-sectional surfaces (±c-plane) of the other specimen. For the former specimen, we found the facts that +c- and m-planes are very resistive and p- and -c-planes are very conductive. For the latter specimen, we observed very conductive regions surrounding a very resistive seed crystal and very resistive surface at +c- and m-planes surrounding the conductive regions. The information should reflect changes in growth conditions of ZnO single crystals and will be used for further understanding the crystal growth processes. We also demonstrated that system calibration can easily and stably be made using a standard specimen of YX- ZnO (independent with piezoelectricity).
キーワード (和) ZnO単結晶 / 直線集束ビーム超音波材料解析システム / マイクロ直線集束ビーム超音波材料解析システム / 漏洩弾性表面波速度 / / / /  
(英) ZnO single crystal / line-focus-beam ultrasonic material characterization system / micro-line-focus-beam ultrasonic material characterization system / velocity of leaky surface acoustic waves / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 213, US2009-51, pp. 77-82, 2009年9月.
資料番号 US2009-51 
発行日 2009-09-22 (US) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード US2009-51

研究会情報
研究会 US  
開催期間 2009-09-29 - 2009-09-30 
開催地(和) 祝いの宿 登別グランドホテル 会議室 
開催地(英) Noboribetsu Grand Hotel 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英) General 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 US 
会議コード 2009-09-US 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) マイクロLFB超音波材料解析システムのZnO単結晶評価への応用 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Evaluation of Elastic Inhomogeneity in ZnO Crystal by Means of the Micro-LFB Ultrasonic Material Characterization System 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ZnO単結晶 / ZnO single crystal  
キーワード(2)(和/英) 直線集束ビーム超音波材料解析システム / line-focus-beam ultrasonic material characterization system  
キーワード(3)(和/英) マイクロ直線集束ビーム超音波材料解析システム / micro-line-focus-beam ultrasonic material characterization system  
キーワード(4)(和/英) 漏洩弾性表面波速度 / velocity of leaky surface acoustic waves  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉田 翔 / Sho Yoshida / ヨシダ ショウ
第1著者 所属(和/英) 東北大学大学工学研究科 (略称: 東北大)
Graduate School of Engineering, Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 大橋 雄二 / Yuji Ohashi / オオハシ ユウジ
第2著者 所属(和/英) 東北大学大学工学研究科 (略称: 東北大)
Graduate School of Engineering, Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 荒川 元孝 / Mototaka Arakawa / アラカワ モトタカ
第3著者 所属(和/英) 東北大学大学工学研究科 (略称: 東北大)
Graduate School of Engineering, Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 櫛引 淳一 / Jun-ichi Kushibiki / クシビキ ジュンイチ
第4著者 所属(和/英) 東北大学大学工学研究科 (略称: 東北大)
Graduate School of Engineering, Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 坂上 登 / Noboru Sakagami / サカガミ ノボル
第5著者 所属(和/英) 東北大学大学工学研究科 (略称: 東北大)
Graduate School of Engineering, Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第21著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第21著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第22著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第22著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第23著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第23著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第24著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第24著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第25著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第25著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第26著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第26著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第27著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第27著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第28著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第28著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第29著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第29著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第30著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第30著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第31著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第31著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第32著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第32著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第33著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第33著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第34著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第34著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第35著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第35著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第36著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第36著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2009-09-30 10:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 US 
資料番号 US2009-51 
巻番号(vol) vol.109 
号番号(no) no.213 
ページ範囲 pp.77-82 
ページ数
発行日 2009-09-22 (US) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会