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講演抄録/キーワード
講演名 2009-10-02 16:35
アナログ離散時間信号処理のための高線形かつ広帯域サンプリング回路
佐藤 守阿部寛之黒田忠広石黒仁揮慶大ICD2009-59 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2009-59
抄録 (和) ソフトウェア無線技術の実現に向けて,アナログ信号を離散時間処理することで,回路の特性が再構築可能となる手法が注目されている.本研究では,CMOSの微細化に伴う漏れ電流の問題を解析し,将来の先端デバイスにも実現可能な漏れ電流を低減させた高信頼性のブートストラップ技術を考案する.これを用いてアナログ離散時間処理への応用を目標とした高線形性・広帯域サンプリング回路を設計し,90nmCMOSプロセスにて試作・測定を行った.本提案回路は広帯域(500MHz-5GHz),低電圧(0.5V-1.2V)において高い線形性を実現し,パワースケーラブルな動作を示した.また,従来回路との性能比較検証を行っている. 
(英) This paper reports a highly linear RF sampler with wide operating frequency range and power supply range. A clock bootstrapping circuit is proposed to decrease both the on-resistance and off-leakage of advanced MOSFETs while considering the device reliability. The proposed RF sampler circuit has been implemented in 90nm CMOS process, and excellent IIP3 has been obtained at wide frequency range up to 5GHz and 2GHz when the power supply is 1.2V and 0.5V, respectively.
キーワード (和) CMOS / RF / 信頼性 / ソフトウェア無線 / ダイナミックレンジ / パワースケーラブル / 歪み /  
(英) CMOS / RF / Reliability / Software-defined-radio / Dynamic-range / Power scalable / Distortion /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 214, ICD2009-59, pp. 147-152, 2009年10月.
資料番号 ICD2009-59 
発行日 2009-09-24 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ICD2009-59 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2009-59

研究会情報
研究会 ICD ITE-IST  
開催期間 2009-10-01 - 2009-10-02 
開催地(和) キャンパス・イノベーションセンター東京(田町) 
開催地(英) CIC Tokyo (Tamachi) 
テーマ(和) アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路 
テーマ(英) Analog, Mixed analog and digital, RF, and sensor interface circuitry 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2009-10-ICD-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) アナログ離散時間信号処理のための高線形かつ広帯域サンプリング回路 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A High Linear and Wide Frequency Range RF Sampling Circuit for Discrete Time Signal Processing 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) CMOS / CMOS  
キーワード(2)(和/英) RF / RF  
キーワード(3)(和/英) 信頼性 / Reliability  
キーワード(4)(和/英) ソフトウェア無線 / Software-defined-radio  
キーワード(5)(和/英) ダイナミックレンジ / Dynamic-range  
キーワード(6)(和/英) パワースケーラブル / Power scalable  
キーワード(7)(和/英) 歪み / Distortion  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 守 / Mamoru Sato / サトウ マモル
第1著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 阿部 寛之 / Hiroyuki Abe / アベ ヒロユキ
第2著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 黒田 忠広 / Tadahiro Kuroda / クロダ タダヒロ
第3著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 石黒 仁揮 / Hiroki Ishikuro / イシクロ ヒロキ
第4著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2009-10-02 16:35:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 ICD2009-59 
巻番号(vol) vol.109 
号番号(no) no.214 
ページ範囲 pp.147-152 
ページ数
発行日 2009-09-24 (ICD) 


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