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講演抄録/キーワード
講演名 2009-10-20 11:00
高信頼SSDの長寿命化とその評価法
田井健介北神正人千葉大DC2009-23
抄録 (和) 近年,複数のフラッシュメモリから構成されるソリッドステートドライブ(SSD)の大容量化が進んでいる.記録密度の高いフラッシュメモリはデータに誤りを生じやすいため,従来の誤り制御手法のみではSSDの信頼性低下が懸念されている.また,フラッシュメモリセルはデータの消去回数に限界があるため,書き込みが特定の部分に集中するとセルが劣化し,正しいデータを保持することが不可能となる.フラッシュメモリ内では消去回数の平滑化を行うウェアレベリング技術が用いられているが,実際の書き込みデータの特徴を捉えることは困難であるため,セルの劣化によってメモリの短寿命化が生じる.そこで本研究では,SSDの高信頼化と長寿命化を目的とし,SSD内の一部のフラッシュメモリを利用することによって,ウェアレベリングと誤り制御を行う手法を提案する.提案手法では,通常時はデータの誤り制御を行い,消去回数に偏りが生じている時はチャネル間でのウェアレベリングを行っている.また,セルの劣化を考慮して,ウェアレベリングを行う頻度を調節している.提案手法についてビット誤り率と寿命の評価を行い,信頼性と耐久性に優れていることを示す. 
(英) Storage capacity of solid-state drive (SSD) which has a large number of flash memories is rapidly increasing in recent years. Because high-density flash memories tend to have errors within their data easily, the reliability of SSD decreases even if using conventional error control method. Also, flash memory cells have a limited number of erasure cycles. Therefore, if many writes concentrate into the same part, the memory cells are broken and become unable to store the data. Wear-leveling is used for leveling the erasure cycles in a flash memory. The cells are broken and lifetime of memories is shortened because it is hard to catch the characteristics of the actual data. This paper proposes wear-leveling and error control method by using some flash memories in SSD in order to improve SSD reliability and lifetime. In the proposed method, error control is usually executed, and wear-leveling among the channels is executed when there is a bias in the erasure cycles. In addition, the execution frequency of wear-leveling is adjusted in consideration of deterioration of the cell. Evaluation of bit error rate and lifetime shows that the proposed method has high reliability and durability.
キーワード (和) ソリッドステートドライブ(SSD) / フラッシュメモリ / ウェアレベリング / 誤り制御符号 / 長寿命化 / / /  
(英) solid-state drive (SSD) / flash memory / wear-leveling / error control code / lifetime prolongation / / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 238, DC2009-23, pp. 7-12, 2009年10月.
資料番号 DC2009-23 
発行日 2009-10-13 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2009-23

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2009-10-20 - 2009-10-20 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) ネットワーク環境でのディペンダビリティ 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2009-10-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 高信頼SSDの長寿命化とその評価法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Prolongation of Lifetime and the Evaluation Method of Dependable SSD 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ソリッドステートドライブ(SSD) / solid-state drive (SSD)  
キーワード(2)(和/英) フラッシュメモリ / flash memory  
キーワード(3)(和/英) ウェアレベリング / wear-leveling  
キーワード(4)(和/英) 誤り制御符号 / error control code  
キーワード(5)(和/英) 長寿命化 / lifetime prolongation  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 田井 健介 / Kensuke Tai / タイ ケンスケ
第1著者 所属(和/英) 千葉大学 (略称: 千葉大)
Chiba University (略称: Chiba Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 北神 正人 / Masato Kitakami / キタカミ マサト
第2著者 所属(和/英) 千葉大学 (略称: 千葉大)
Chiba University (略称: Chiba Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2009-10-20 11:00:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2009-23 
巻番号(vol) vol.109 
号番号(no) no.238 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数
発行日 2009-10-13 (DC) 


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