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講演抄録/キーワード
講演名 2009-10-20 14:55
SFQ TDCを用いた64 kb Josephson/CMOSハイブリッドメモリのアクセスタイム測定
岡本悠史朴 熙中陳 賢珠矢口謙太山梨裕希吉川信行横浜国大SCE2009-21 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2009-21
抄録 (和) 我々はこれまでにRohm 0.35 μm プロセスを用いてSFQ/CMOSハイブッドメモリの検討を行ってきた。その結果、16kb SFQ/CMOSハイブリッドメモリにおいて1.2 nsのアクセスタイムが得られていたが、ダブルピークがなどの問題も残った。今回、SRL 2.5 kA/cm2 Nb プロセスならびにRohm 0.18 μm プロセスを用いて、より大規模なシステムである64 kb SFQ/CMOSハイブリッドメモリを試作した。その際に、寄生容量を低下させJosephson Latching Driverの動作を安定させるため、CMOSチップの入力保護回路を取り外した。今回はこのシステムでのアクセスタイム測定を行った結果、1.4 nsというアクセスタイムを得ることができ、ダブルピークの問題も解決することができた。 
(英) We have been developing a Josephson/CMOS hybrid memory, which enables the sub-nanosecond access time to overcome a memory bottleneck in RSFQ digital systems. In our previous study, we obtained the access time of about 1.2 ns in the 16 kb hybrid memory system using a 0.35 µm CMOS process. But, we faced with a problem of double peaks in histograms. In this study, we designed a 64 kb hybrid memory system using a 0.18 µm CMOS process. We consider that a reason of the double peak problem is due to the parasitic capacitance at the bonding pad of the Josephson and CMOS chips. We measured the access time using the Josephson and CMOS chips with reduced parasitic capacitance, and obtained the access time of about 1.4 ns in the 64 kb hybrid memory system.
キーワード (和) 超伝導集積回路 / SFQ回路 / ハイブリッドメモリ / アクセスタイム / 寄生容量 / / /  
(英) Superconducting integrated circuits / SFQ circuits / Hybrid memory / Access time / Parasitic capacitance / / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 236, SCE2009-21, pp. 25-29, 2009年10月.
資料番号 SCE2009-21 
発行日 2009-10-13 (SCE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SCE2009-21 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2009-21

研究会情報
研究会 SCE  
開催期間 2009-10-20 - 2009-10-20 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) デジタル, 一般 
テーマ(英) Digital, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SCE 
会議コード 2009-10-SCE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) SFQ TDCを用いた64 kb Josephson/CMOSハイブリッドメモリのアクセスタイム測定 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Access Time Measurement of 64 kb Josephson/CMOS Hybrid Memories using SFQ Time-to-Digital Converter 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 超伝導集積回路 / Superconducting integrated circuits  
キーワード(2)(和/英) SFQ回路 / SFQ circuits  
キーワード(3)(和/英) ハイブリッドメモリ / Hybrid memory  
キーワード(4)(和/英) アクセスタイム / Access time  
キーワード(5)(和/英) 寄生容量 / Parasitic capacitance  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡本 悠史 / Yuji Okamoto / オカモト ユウジ
第1著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 朴 熙中 / Heejoung Park / パク ヒジュン
第2著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 陳 賢珠 / Hyunjoo Jin / ジン ヒュンジュ
第3著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 矢口 謙太 / Kenta Yaguchi / ヤグチ ケンタ
第4著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 山梨 裕希 / Yuki Yamanashi / ヤマナシ ユウキ
第5著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉川 信行 / Nobuyuki Yoshikawa / ヨシカワ ノブユキ
第6著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2009-10-20 14:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SCE 
資料番号 SCE2009-21 
巻番号(vol) vol.109 
号番号(no) no.236 
ページ範囲 pp.25-29 
ページ数
発行日 2009-10-13 (SCE) 


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