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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-12-04 14:05 開放故障に伴う不安定論理の固定化 ～ 簡易な故障診断技術を目指して ～ ○眞田 克（高知工科大）・橋田啓二（ルネサスデザイン）・安富泰輝（高知工科大）  VLD2009-64 DC2009-51 |
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| 抄録 | （和） | 不安定な出力論理を有するフローテイングゲート故障に対して、出力論理値を固定化する実験を行った。実験はゲートオープン故障を作り込んだサンプルに対して、外部から刺激を印加する方式である。刺激はレーザ照射と電界印加である。電気的特性をモニタしながらその効果を調べた。その結果、前者はフローテング状態による種々の特性に関わりなく出力電圧値をHに固定化できた。後者はフローテング状態の電気的特性に重畳した特性として確認できた。これらの現象はゲートオープン故障箇所の特定や故障診断へのアシストとして適用できる。セル内故障診断において、論理固定化したモデルを回路に埋め込むことで確度の高い故障候補を特定できる。 |
| （英） | An experiment for stabilization of output logic brought by floating gate fault with unsuitable electric value has been executed. The method is the way to apply outside impulse to LSI with gate open fault. The impulses are laser irradiation and electric field impression. The experimental result is that the former impulse brings stabilization of output logic value, regardless of a couple of electrical features brought by gate floating state, and the latter brings the change of electric value wrapped over electric property of floating gate. These phenomenon are applied to detect fault portion with gate open, and to assist fault diagnosis. For the fault diagnosis technology based on transistor level, the stabilized logic value is embedded in fault circuit and high accuracy candidate fault portions are detected. | |
| キーワード | （和） | フローテイングゲート故障 / 論理の固定化 / 故障診断 / レーザ照射 / 電界 / / / |
| （英） | Floating gate fault / Stabilized logic value / Fault diagnosis technology / Laser irradiation / Electric field impression / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 316, DC2009-51, pp. 161-166, 2009年12月. | |
| 資料番号 | DC2009-51 | |
| 発行日 | 2009-11-25 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2009-64 DC2009-51 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2009-12-02 - 2009-12-04 |
| 開催地（和） | 高知市文化プラザ |
| 開催地（英） | Kochi City Culture-Plaza |
| テーマ（和） | デザインガイア2009 ―VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2009 ―New Field of VLSI Design― |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2009-12-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 開放故障に伴う不安定論理の固定化 |
| サブタイトル（和） | 簡易な故障診断技術を目指して |
| タイトル（英） | Logic stabilization way of open fault with unsuitable logic |
| サブタイトル（英） | Aim in simple diagnosis technology |
| キーワード(1)（和/英） | フローテイングゲート故障 / Floating gate fault |
| キーワード(2)（和/英） | 論理の固定化 / Stabilized logic value |
| キーワード(3)（和/英） | 故障診断 / Fault diagnosis technology |
| キーワード(4)（和/英） | レーザ照射 / Laser irradiation |
| キーワード(5)（和/英） | 電界 / Electric field impression |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 眞田 克 / Masaru Sanada / サナダ マサル |
| 第1著者 所属（和/英） | 高知工科大学 (略称： 高知工科大) Kochi University of Technology (略称： Koch Univ. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋田 啓二 / Keishi Hashida / ハシダ ケイシ |
| 第2著者 所属（和/英） | ルネサスデザイン (略称： ルネサスデザイン) Renesas Design (略称： Renesas Design) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 安富 泰輝 / Taiki Yasutomi / ヤストミ タイキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 高知工科大学 (略称： 高知工科大) Kochi University of Technology (略称： Koch Univ. of Tech.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2009-12-04 14:05:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2009-64, DC2009-51 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.315(VLD), no.316(DC) |
| ページ範囲 | pp.161-166 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2009-11-25 (VLD, DC) |
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