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講演抄録/キーワード
講演名 2009-12-11 11:00
端面発光型AlGaInAsレーザの端面応力が信頼性に及ぼす影響
市川弘之熊谷安紀子河野直哉松川真治福田智恵岩井圭子生駒暢之住友電工LQE2009-142
抄録 (和) 端面発光型レーザの信頼性を左右する指標の1つに、端面の応力が挙げられる。しかしながら、高速変調・高温動作に優れたAlGaInAsレーザでは、端面応力が信頼性に及ぼす影響が分かっていなかった。そこで今回、1.3μm 端面発光型AlGaInAsレーザを用いて端面応力と信頼性の関係を調査した。端面コーティングの形成条件を変化させて、応力の値は約200MPaと同等ながら、応力の向きを引張、圧縮と変えた2種類のレーザを作製した。それらのレーザに対して、光に対する耐性を評価する順方向ESD試験、85℃ 8mW 5000hの長期信頼性試験、絶対定格を超えた85℃ 200mA 800hの加速劣化試験を実施した。順方向ESD試験での1kVの劣化率は、圧縮応力の方が引張応力より33%減少した。この効果は、端面の活性層のバンドギャップ拡大により、光吸収による発熱が低減されたことを示唆している。長期信頼性試験では、引張応力と圧縮応力で寿命に差異は無く、長期信頼性が端面応力の向きに依存する傾向は見られなかった。加速劣化試験では、光吸収による劣化とは異なり、端面の活性層に転位網が形成される劣化が引張応力でのみ発生した。劣化機構の詳細は分かっていないが、圧縮応力では全く劣化しないことから、劣化の発生が端面応力に依存することが分かった。 
(英) Although facet stress is one of the important parameters in edge-emitting laser diodes (LDs), the relationship between facet stress and reliability in AlGaInAs edge-emitting LDs has been unclear. Thus, we prepared two types of LDs which difference is stress-direction at the facet. We carried out three types of reliability tests: forward-biased electrostatic discharge (ESD) tests, long-tern reliability tests, and accelerated aging tests. In ESD tests, cumulative degradation ratio of compressive-stress was 33% lower than that of tensile-stress. This effect was obtained by decrease in optical absorption. In long-term aging tests of 85deg 8mW 5000h, degradation did not occur. In accelerated aging tests of 85deg 200mA 800h, degradation occurred only for tensile-stress. This degradation mechanism was different from that due to optical absorption. Although degradation mechanism has been unclear, we found that this degradation is dependent on stress-direction at the facet.
キーワード (和) AlGaInAs / レーザ / 応力 / 信頼性 / / / /  
(英) AlGaInAs / Laser / Stress / Reliability / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 331, LQE2009-142, pp. 19-23, 2009年12月.
資料番号 LQE2009-142 
発行日 2009-12-04 (LQE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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PDFダウンロード LQE2009-142

研究会情報
研究会 LQE  
開催期間 2009-12-11 - 2009-12-11 
開催地(和) 機械振興会館 地下3階2号室 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 半導体レーザ関連技術,及び一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 LQE 
会議コード 2009-12-LQE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 端面発光型AlGaInAsレーザの端面応力が信頼性に及ぼす影響 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Relationship between Facet Stress and Reliability of Edge-Emitting AlGaInAs Laser Diodes 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) AlGaInAs / AlGaInAs  
キーワード(2)(和/英) レーザ / Laser  
キーワード(3)(和/英) 応力 / Stress  
キーワード(4)(和/英) 信頼性 / Reliability  
キーワード(5)(和/英) /  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 市川 弘之 / Hiroyuki Ichikawa / イチカワ ヒロユキ
第1著者 所属(和/英) 住友電気工業株式会社 (略称: 住友電工)
Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称: Sumitomo Electric Industries, Ltd.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 熊谷 安紀子 / Akiko Kumagai / クマガイ アキコ
第2著者 所属(和/英) 住友電気工業株式会社 (略称: 住友電工)
Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称: Sumitomo Electric Industries, Ltd.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 河野 直哉 / Naoya Kono / コウノ ナノヤ
第3著者 所属(和/英) 住友電気工業株式会社 (略称: 住友電工)
Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称: Sumitomo Electric Industries, Ltd.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 松川 真治 / Shinji Matsukawa / マツカワ シンジ
第4著者 所属(和/英) 住友電気工業株式会社 (略称: 住友電工)
Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称: Sumitomo Electric Industries, Ltd.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 福田 智恵 / Chie Fukuda / フクダ チエ
第5著者 所属(和/英) 住友電気工業株式会社 (略称: 住友電工)
Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称: Sumitomo Electric Industries, Ltd.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩井 圭子 / Keiko Iwai / イワイ ケイコ
第6著者 所属(和/英) 住友電気工業株式会社 (略称: 住友電工)
Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称: Sumitomo Electric Industries, Ltd.)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 生駒 暢之 / Nobuyuki Ikoma / イコマ ノブユキ
第7著者 所属(和/英) 住友電気工業株式会社 (略称: 住友電工)
Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称: Sumitomo Electric Industries, Ltd.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2009-12-11 11:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 LQE 
資料番号 LQE2009-142 
巻番号(vol) vol.109 
号番号(no) no.331 
ページ範囲 pp.19-23 
ページ数
発行日 2009-12-04 (LQE) 


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