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講演抄録/キーワード
講演名 2010-01-14 14:40
再成長AlGaNコンタクト層を有する圧縮歪みInAlN/AlGaN/GaN FETs
廣木正伸前田就彦重川直輝NTTED2009-187 MW2009-170 エレソ技報アーカイブへのリンク:ED2009-187 MW2009-170
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文献情報 信学技報, vol. 109, no. 360, ED2009-187, pp. 71-76, 2010年1月.
資料番号 ED2009-187 
発行日 2010-01-06 (ED, MW) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
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研究会情報
研究会 ED MW  
開催期間 2010-01-13 - 2010-01-15 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg 
テーマ(和) 化合物半導体デバイスおよび超高周波デバイス/一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ED 
会議コード 2010-01-ED-MW 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 再成長AlGaNコンタクト層を有する圧縮歪みInAlN/AlGaN/GaN FETs 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Compressively Strained InAlN/AlGaN/GaN FETs with Regrown AlGaN Contact Layers 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 廣木 正伸 / Masanobu Hiroki / ヒロキ マサノブ
第1著者 所属(和/英) NTTフォトニクス研究所 (略称: NTT)
NTT Photonics Laboratories, NTT Corporation (略称: NTT Corp.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 前田 就彦 / Narihiko Maeda / マエダ ナリヒコ
第2著者 所属(和/英) NTTフォトニクス研究所 (略称: NTT)
NTT Photonics Laboratories, NTT Corporation (略称: NTT Corp.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 重川 直輝 / Naoteru Shigekawa / シゲカワ ナオテル
第3著者 所属(和/英) NTTフォトニクス研究所 (略称: NTT)
NTT Photonics Laboratories, NTT Corporation (略称: NTT Corp.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2010-01-14 14:40:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 ED 
資料番号 ED2009-187, MW2009-170 
巻番号(vol) vol.109 
号番号(no) no.360(ED), no.361(MW) 
ページ範囲 pp.71-76 
ページ数
発行日 2010-01-06 (ED, MW) 


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