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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-01-27 14:05 SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装 ○藤恵里司・野地亮志・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大）  VLD2009-93 CPSY2009-75 RECONF2009-78 |
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| 抄録 | （和） | 再構成可能デバイスを用いた高信頼システムとして，エラーを検出した際に正常な構成要素のみで再構成を行うことで， 構成前と同等な機能を実現する漸次縮退システムが提案されている． 本研究では漸次縮退システムをFPGA上に実装し，その有効性を考察する． 実装した漸次縮退システムは，エラーの種類から故障状況を推定し，回復手段を適切に変更することができるため， 高い性能を維持しながら稼働時間を長くできる． 実験では再構成に要する時間や総実行時間を測定し，提案する漸次縮退システムの有効性を示す． |
| （英） | Fail-soft systems with reconfigurable devices, which recover themselves by repeating isolation of faulty portions with graceful degradation, have been proposed. In this paper, we implement a fail-soft system on an FPGA and discuss the performance and availability of the system. The implemented system can infer the type of faults from obtained errors, and then adaptively reconfigure itself, so that it can achieve high availability while keeping high performance. As an experiment, we measure the reconfigure time and the total run time to show the effectiveness of the implemented fail-soft system. |
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| キーワード | （和） | FPGA / 耐故障 / 漸次縮退 / 故障状況 / / / / |
| （英） | FPGAs / fault tolerance / fail-soft / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 395, RECONF2009-78, pp. 149-154, 2010年1月. | |
| 資料番号 | RECONF2009-78 | |
| 発行日 | 2010-01-19 (VLD, CPSY, RECONF) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2009-93 CPSY2009-75 RECONF2009-78 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | IPSJ-SLDM VLD CPSY RECONF |
| 開催期間 | 2010-01-26 - 2010-01-27 |
| 開催地（和） | 慶應義塾大学日吉キャンパス |
| 開催地（英） | Keio Univ (Hiyoshi Campus) |
| テーマ（和） | FPGA応用および一般 |
| テーマ（英） | FPGA Applications, etc |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | RECONF |
| 会議コード | 2010-01-SLDM-VLD-CPSY-RECONF |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Implementation of Fail-soft Systems with Adaptive Fault Tolerance using SRAM-based FPGAs |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | FPGA / FPGAs |
| キーワード(2)（和/英） | 耐故障 / fault tolerance |
| キーワード(3)（和/英） | 漸次縮退 / fail-soft |
| キーワード(4)（和/英） | 故障状況 / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤恵 里司 / Satoshi Fujie / フジエ サトシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 野地 亮志 / Ryoji Noji / ノジ リョウジ |
| 第2著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉川 祐樹 / Yuki Yoshikawa / ヨシカワ ユウキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 智生 / Tomoo Inoue / イノウエ トモオ |
| 第5著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-01-27 14:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | RECONF |
| 資料番号 | VLD2009-93, CPSY2009-75, RECONF2009-78 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.393(VLD), no.394(CPSY), no.395(RECONF) |
| ページ範囲 | pp.149-154 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-01-19 (VLD, CPSY, RECONF) |
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