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| 講演名 | 2010-02-15 14:35 BISTにおける高品質遅延故障テストのためのシード選択法 ○竹谷 啓・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大）  DC2009-74 |
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| 抄録 | （和） | 本稿では，LFSR，フェーズシフタ及びMISRで構成されるスキャンBISTを対象とし，テストデータ量制約下における高品質遅延故障テストのためのシード選択法を提案する．提案手法では，被テスト回路に対してテスト生成を行い，得られたテストキューブ集合をシード集合へ変換する．テスト品質として統計的遅延品質指標(SDQL)を採用し，得られたシード集合からテストデータ量制約下で最良のSDQLとなるシードを選択する．ITC'99ベンチマーク回路に対する評価実験では，提案手法が実用的な時間で品質の高いシードを選択可能であることを示す． |
| （英） | In this paper, we target a scan BIST architecture that consists of LFSR, phase shifter and MISR, and propose a method to select seeds for high quality delay testing under a constraint on the test data volume. In the proposed method, we first generate a set of test cubes for small delay defects and convert it into a set of seeds. Then, we efficiently select a seed set with high delay quality in terms of SDQL. Experimental results for ITC'99 benchmark circuits show that the proposed method can obtain a high quality seed set with reasonable computation time. | |
| キーワード | （和） | BIST / シード選択 / 遅延テスト / SDQM / / / / |
| （英） | BIST / seed selection / delay test / SDQM / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 416, DC2009-74, pp. 57-62, 2010年2月. | |
| 資料番号 | DC2009-74 | |
| 発行日 | 2010-02-08 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2009-74 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2010-02-15 - 2010-02-15 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2010-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | BISTにおける高品質遅延故障テストのためのシード選択法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Seed Selection for High Quality Delay Fault Test in BIST |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | BIST / BIST |
| キーワード(2)（和/英） | シード選択 / seed selection |
| キーワード(3)（和/英） | 遅延テスト / delay test |
| キーワード(4)（和/英） | SDQM / SDQM |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 竹谷 啓 / Akira Taketani / タケタニ アキラ |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology (略称： Nara Inst. of Sci and Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 米田 友和 / Tomokazu Yoneda / ヨネダ トモカズ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology (略称： Nara Inst. of Sci and Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 美智子 / Michiko Inoue / イノウエ ミチコ |
| 第3著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology (略称： Nara Inst. of Sci and Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤原 秀雄 / Hideo Fujiwara / フジワラ ヒデオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology (略称： Nara Inst. of Sci and Tech.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-02-15 14:35:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2009-74 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.416 |
| ページ範囲 | pp.57-62 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-02-08 (DC) |
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