講演抄録/キーワード |
講演名 |
2010-02-19 15:45
錫(Sn)めっきコネクタの接触面に大気中高温下で成長する酸化皮膜の物理的特徴とその接触抵抗への影響 ○鍋田佑也・澤田 滋・齋藤 寧(三重大)・清水 敦・服部康弘(オートネットワーク技研)・玉井輝雄(三重大) R2009-57 EMD2009-124 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2009-124 |
抄録 |
(和) |
コネクタ等の接触部に用いられる錫めっき表面は錫の酸化皮膜で常に覆われ、大気中の気体を遮断し、耐食性を持たせる特徴がある。しかし、この酸化皮膜が接触部に介在すると接触抵抗を高め、接触信頼性を害することになる。特に低接触力の接触部では重要となる。この酸化皮膜の成長則については既に明らかにした。すなわち、室温度では14nmの厚さで飽和することが明らかとなった。今回は120℃や150℃の高温放置で生じる錫酸化皮膜の成分(組成)、その成長則、接触抵抗への影響をこの温度以下の低温で放置した場合と比較検討した結果を報告する。 |
(英) |
Tin plated surface used for contact surface such as connectors is usually covered with the oxide vfilm in the atmosphere. As the surface covered with the film, surfcae corrosion is prevented from gas in the atmosphere, the surface has corrosion resistance characteristic. However, the oxide film is interposed between contact interfaces, contact resistance increase extremely in low contact load. therefore, the problem of contact reliability is exist. In previous study, the growth law of tin oxide film was already clarified. namely, the oxide film thickness saturated about 10nm at room temperature. At elevated temperature (80-120 centigrade degree), thr growth law indicated same tendency as at low temperature. In this study, growth law at the temperature of 150 degree was studied, and it was found that the growth law was different from that of low temperature. The cause is found in change of optical constants of the surface. This should be dependence of formation of the film. The film formation is amorphous SnO at temperature between romm temperature to 80 degree. However, at 120 degree, the formation changed to crystallized SnO2. Moreover, for 150 degree, the crystallization is much more remarkable. |
キーワード |
(和) |
錫めっき / 酸化皮膜 / 接触機構デバイス / コネクタ / 接触抵抗 / EPMA / エリプスメトリ / |
(英) |
plated tin / tin oxide film / electromechanical devices / contact resistance / electorical contatcts / EPMA / ellipsometry / |
文献情報 |
信学技報, vol. 109, no. 420, EMD2009-124, pp. 43-48, 2010年2月. |
資料番号 |
EMD2009-124 |
発行日 |
2010-02-12 (R, EMD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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