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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-03-05 10:15 電磁界解析によるFPGAからの局所情報取得 ○落合隆夫・山本 大・伊藤孝一・武仲正彦・鳥居直哉・内田大輔・永井利明・若菜伸一（富士通研）  IT2009-105 ISEC2009-113 WBS2009-84 |
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| 抄録 | （和） | 電磁界ノイズを用いたサイドチャネル攻撃は, 非接触, 非破壊で行うことができるだけでなく, 測定箇所を自由に決定できるため, 選択的に秘匿情報を取得できる可能性が指摘されている.本稿では, SASEBOの暗号実装用FPGAに実装された128bitブロック暗号AESを攻撃対象とし, 市販の高分解能プローブを用いて複数個所の電磁波測定を行った. その結果, 暗号レジスタの位置情報に依存した解析結果が得られること，そして測定箇所によっては相関係数の最小値から暗号鍵の推定ができることがわかった. |
| （英） | A side channel attack by means of electromagnetic analysis for SASEBO-AES was investigated. Local information from FPGA mounted on SASEBO-AES was observed using a commercial magnetic probe which has spatial resolution of 250 micro meter. We also found that negative and minimum correlation factor was obtained, and indicated correct key byte in some of point of measurement. Our results show that, in electromagnetic analysis, not only maximum values but also negatives should be taken account for estimation of encryption key. | |
| キーワード | （和） | サイドチャネル攻撃 / 電磁界解析 / 相関電力解析 / 局所情報 / SASEBO / AES / FPGA / |
| （英） | Side Channel Attack / Electro Magnetic Analysis / Correlation Power Analysis / Local Information / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 445, ISEC2009-113, pp. 217-223, 2010年3月. | |
| 資料番号 | ISEC2009-113 | |
| 発行日 | 2010-02-25 (IT, ISEC, WBS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | IT2009-105 ISEC2009-113 WBS2009-84 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | IT ISEC WBS |
| 開催期間 | 2010-03-04 - 2010-03-05 |
| 開催地（和） | 信州大学長野(工学)キャンパス |
| 開催地（英） | Nagano-Engineering Campus, Shinshu University |
| テーマ（和） | 一般：情報通信基礎サブソサイエティ合同研究会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ISEC |
| 会議コード | 2010-03-IT-ISEC-WBS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 電磁界解析によるFPGAからの局所情報取得 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Obtaining Local Information from FPGA Using Electromagnetic Analysis |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | サイドチャネル攻撃 / Side Channel Attack |
| キーワード(2)（和/英） | 電磁界解析 / Electro Magnetic Analysis |
| キーワード(3)（和/英） | 相関電力解析 / Correlation Power Analysis |
| キーワード(4)（和/英） | 局所情報 / Local Information |
| キーワード(5)（和/英） | SASEBO / |
| キーワード(6)（和/英） | AES / |
| キーワード(7)（和/英） | FPGA / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 落合 隆夫 / Takao Ochiai / オチアイ タカオ |
| 第1著者 所属（和/英） | (株)富士通研究所 (略称： 富士通研) Fujitsu Laboratories Ltd. (略称： Fujitsu Labs.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山本 大 / Dai Yamamoto / ヤマモト ダイ |
| 第2著者 所属（和/英） | (株)富士通研究所 (略称： 富士通研) Fujitsu Laboratories Ltd. (略称： Fujitsu Labs.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊藤 孝一 / Kouichi Itoh / イトウ コウイチ |
| 第3著者 所属（和/英） | (株)富士通研究所 (略称： 富士通研) Fujitsu Laboratories Ltd. (略称： Fujitsu Labs.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 武仲 正彦 / Masahiko Takenaka / タケナカ マサヒコ |
| 第4著者 所属（和/英） | (株)富士通研究所 (略称： 富士通研) Fujitsu Laboratories Ltd. (略称： Fujitsu Labs.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鳥居 直哉 / Naoya Torii / トリイ ナオヤ |
| 第5著者 所属（和/英） | (株)富士通研究所 (略称： 富士通研) Fujitsu Laboratories Ltd. (略称： Fujitsu Labs.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 内田 大輔 / Daisuke Uchida / ウチダ ダイスケ |
| 第6著者 所属（和/英） | (株)富士通研究所 (略称： 富士通研) Fujitsu Laboratories Ltd. (略称： Fujitsu Labs.) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永井 利明 / Toshiaki Nagai / ナガイ トシアキ |
| 第7著者 所属（和/英） | (株)富士通研究所 (略称： 富士通研) Fujitsu Laboratories Ltd. (略称： Fujitsu Labs.) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 若菜 伸一 / Shinichi Wakana / ワカナ シンイチ |
| 第8著者 所属（和/英） | (株)富士通研究所 (略称： 富士通研) Fujitsu Laboratories Ltd. (略称： Fujitsu Labs.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-03-05 10:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ISEC |
| 資料番号 | IT2009-105, ISEC2009-113, WBS2009-84 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.444(IT), no.445(ISEC), no.446(WBS) |
| ページ範囲 | pp.217-223 |
| ページ数 | 7 |
| 発行日 | 2010-02-25 (IT, ISEC, WBS) |
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